參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.球頭表面硬度：采用HRC標(biāo)尺測(cè)量（58-62HRC），測(cè)試點(diǎn)間距≤3mm

2.球頭直徑誤差：公差范圍0.005mm（基準(zhǔn)直徑3-50mm）

3.桿部直線度偏差：允許最大偏移量0.02mm/100mm

4.材料成分分析：碳含量0.35-0.45%，鉻含量0.8-1.2%

5.表面粗糙度：Ra≤0.4μm（球面區(qū)域），Rz≤3.2μm（桿部）

6.滲層深度：氮化層≥0.15mm（HV0.3≥600）

7.圓跳動(dòng)公差：全周跳動(dòng)≤0.008mm（基準(zhǔn)軸線）

檢測(cè)范圍

1.合金鋼制發(fā)動(dòng)機(jī)氣門(mén)頂桿（20CrMnTi/42CrMo）

2.不銹鋼液壓傳動(dòng)頂桿（SUS440C/17-4PH）

3.鈦合金航空作動(dòng)器頂桿（TC4/TC11）

4.硬質(zhì)合金精密測(cè)量頂桿（YG8/YG15）

5.陶瓷復(fù)合材料耐高溫頂桿（Si3N4/ZrO2）

6.表面鍍層處理頂桿（鍍鉻層8-12μm/DLC涂層2-5μm）

檢測(cè)方法

ASTME18-22金屬材料洛氏硬度試驗(yàn)方法

ISO4287:1997產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廓法術(shù)語(yǔ)定義及參數(shù)

GB/T1958-2017產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)幾何公差檢測(cè)與驗(yàn)證

ASTME112-13平均晶粒度測(cè)定方法

GB/T4340.1-2009金屬材料維氏硬度試驗(yàn)第1部分:試驗(yàn)方法

ISO6508-1:2016金屬材料洛氏硬度試驗(yàn)第1部分:試驗(yàn)方法

GB/T231.1-2018金屬材料布氏硬度試驗(yàn)第1部分:試驗(yàn)方法

檢測(cè)設(shè)備

1.MitutoyoCMMCrysta-ApexS三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：三維幾何尺寸測(cè)量精度(1.9+L/250)μm

2.ZwickRoellZHU250萬(wàn)能硬度計(jì)：支持HV/HRC/HRA多標(biāo)尺自動(dòng)轉(zhuǎn)換

3.TaylorHobsonFormTalysurfi-Series輪廓儀：表面粗糙度測(cè)量分辨率0.8nm

4.OLYMPUSGX53金相顯微鏡：5000倍放大帶能譜分析模塊

5.Instron6800系列萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)：最大載荷100kN，應(yīng)變速率控制精度0.5%

6.KEYENCEVHX-7000數(shù)字顯微鏡：三維表面缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)

7.BrukerQ4TASMAN直讀光譜儀：可檢測(cè)C/S/P等18種元素成分

8.HexagonAbsoluteARM7軸測(cè)量臂：便攜式現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量重復(fù)精度0.023mm

9.Elcometer456涂層測(cè)厚儀：磁感應(yīng)/渦流雙模式測(cè)量范圍0-2000μm

10.CarlZeissAXIOImagerM2m自動(dòng)圖像分析系統(tǒng)：晶粒度評(píng)級(jí)符合ASTME112標(biāo)準(zhǔn)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)