參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

質(zhì)量允差檢測：E2級≤±0.03mg至M1級≤±2500mg，依據(jù)OIML分等規(guī)則

材料密度檢測：不銹鋼≥7.85g/cm3，鋁合金≤2.70g/cm3，ASTM B311孔隙率≤0.1%

表面粗糙度檢測：Ra≤0.4μm（E等級），Rz≤3.2μm（F等級），ISO 4288輪廓法

磁化率檢測：χ≤0.05（無磁不銹鋼），ISO 7503磁場梯度法

幾何尺寸檢測：直徑公差±0.02mm，高度偏差≤0.05mm，激光干涉儀三維建模

檢測范圍

316L不銹鋼砝碼：適用于E1/E2級實驗室基準器，耐腐蝕性＞96小時鹽霧測試

無磁鈦合金砝碼：MRI設備專用，磁導率≤1.05μT

包鋼鑄鐵砝碼：M1級工業(yè)稱重，鍍層厚度≥25μm（ISO 1463）

氧化鋁陶瓷砝碼：高溫環(huán)境專用，熱膨脹系數(shù)≤7.2×10??/℃

聚合物復合砝碼：防靜電處理，表面電阻1×10?~1×10?Ω（IEC 61340）

檢測方法

質(zhì)量量值傳遞法：基于ABBA循環(huán)的自動質(zhì)量比較儀（ISO 9001:2015 7.1.5條款）

密度梯度柱法：配備恒溫精度±0.01℃的DMA4500密度計（ASTM D792）

白光干涉表面分析：Zygo NewView9000系統(tǒng)，垂直分辨率0.1nm（ISO 25178-2）

超導量子磁強計：MPMS3系統(tǒng)，檢測靈敏度10??emu（ASTM A342）

三維激光掃描檢測：FARO Quantum S臂，空間精度±0.018mm（VDI/VDE 2634）

檢測設備

Sartorius CC21全自動質(zhì)量比較儀：分辨率0.1μg，最大載荷21kg，支持真空環(huán)境測量

Mettler Toledo XPR206DR分析天平：符合GLP規(guī)范，內(nèi)置溫濕度補償模塊

Bruker ContourGT-X3光學輪廓儀：100倍物鏡，支持非接觸式表面形貌重建

Quantum Design PPMS綜合物性測量系統(tǒng)：磁場強度±9T，溫度范圍1.9K-400K

Hexagon Absolute Arm 7軸測量臂

技術優(yōu)勢

CNAS認可實驗室（注冊號L1234）：通過ILAC-MRA國際互認，出具帶ILAC-MRA標識報告

ISO/IEC 17025:2017認證體系：建立包含235個程序文件的標準化流程

國家計量院溯源體系：配備E1級標準砝碼組（NIM-CMC-2023-001）

專業(yè)團隊配置：12名注冊計量師（CMC），平均從業(yè)年限＞8年

設備校準能力：自主完成CMM三次元測量機（ISO10360-2）年度標定

中析儀器 資質(zhì)