參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

鐵素體形態(tài)分析：長寬比≥5:1，平均長度10-200μm

鐵素體含量測定：體積分?jǐn)?shù)誤差≤0.5%，面積百分比測量精度±2%

分布均勻性評價(jià)：采用ASTM E1245網(wǎng)格法，統(tǒng)計(jì)變異系數(shù)CV值≤15%

晶粒度評級：依據(jù)ASTM E112進(jìn)行G=5-8級判定

界面結(jié)合強(qiáng)度測試：納米壓痕法測量硬度梯度，壓痕間距≤2μm

檢測范圍

低合金高強(qiáng)度鋼：Q345B/Q460C等壓力容器用鋼

奧氏體不銹鋼：304/316L等牌號冷軋板材

雙相不銹鋼：2205/2507系列管材及焊件

焊接熱影響區(qū)：包含MAG/TIG焊接接頭

特種合金材料：核電站用SA508 Gr.3鋼

檢測方法

金相顯微鏡分析：ASTM E3試樣制備，ASTM E407腐蝕規(guī)范

掃描電鏡觀察：ISO 16700加速電壓15kV，WD=10mm

電子背散射衍射：ISO 21466標(biāo)準(zhǔn)，步長0.1μm

X射線衍射定量：ASTM E975 Rietveld精修法

電子探針微區(qū)分析：JIS Z 3296點(diǎn)分析模式，束斑直徑1μm

檢測設(shè)備

蔡司Axio Imager M2m金相顯微鏡：配備500萬像素CCD，最大放大倍數(shù)1000×

FEI Nova NanoSEM 450場發(fā)射電鏡：分辨率1nm@15kV，配備EDAX能譜儀

牛津Symmetry EBSD探測器：采集速度3000點(diǎn)/秒，角分辨率≥0.5°

布魯克D8 ADVANCE X射線衍射儀：Cu靶Kα輻射，2θ范圍5-160°

島津EPMA-8050G電子探針：波長分辨率5eV，元素檢測范圍B-U

技術(shù)優(yōu)勢

持有CNAS L12345實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書，檢測數(shù)據(jù)國際互認(rèn)

通過CMA 20230001資質(zhì)認(rèn)定，覆蓋GB/T 13298等16項(xiàng)檢測標(biāo)準(zhǔn)

配備ISO/IEC 17025:2017標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量體系，檢測不確定度評估符合GUM規(guī)范

技術(shù)團(tuán)隊(duì)包含3名MT/PT III級人員，年均完成2000+試樣檢測

參與制定NB/T 47014承壓設(shè)備焊接工藝評定標(biāo)準(zhǔn)

中析儀器 資質(zhì)