參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

幾何尺寸精度：球面半徑誤差≤±0.05mm，球頂高度公差±0.1mm，球心位置偏移量＜0.03mm

表面粗糙度檢測：Ra值0.4-1.6μm（ISO 4287），波紋度Wt≤0.8μm（ISO 12085）

材料硬度測試：洛氏硬度HRC 30-65（ASTM E18），維氏硬度HV 200-1200（ISO 6507）

殘余應(yīng)力分析：X射線衍射法（ASTM E915）測量應(yīng)力梯度，分辨率達(dá)±10MPa

微觀結(jié)構(gòu)檢測：金相組織分析（ISO 643），晶粒度評級G=5-8（ASTM E112）

檢測范圍

金屬材料球頂：鈦合金TC4、鋁合金6061-T6、不銹鋼316L等

陶瓷材料球頂：氧化鋯(ZrO?)、碳化硅(SiC)、氮化鋁(AlN)等

高分子復(fù)合材料：PEEK-CF30、PTFE+玻纖增強(qiáng)材料

光學(xué)玻璃球頂：BK7光學(xué)玻璃、熔融石英等

涂層表面處理件：DLC類金剛石涂層、CrN硬質(zhì)涂層（厚度5-20μm）

檢測方法

非接觸式三維掃描：依據(jù)ISO 10360-8標(biāo)準(zhǔn)，采用藍(lán)光結(jié)構(gòu)光技術(shù)實(shí)現(xiàn)±2μm測量精度

白光干涉表面分析：按ISO 25178標(biāo)準(zhǔn)評估表面形貌，分辨率達(dá)0.1nm垂直精度

超聲波探傷檢測：執(zhí)行ASTM E317標(biāo)準(zhǔn)，使用10MHz聚焦探頭檢測內(nèi)部缺陷（≥φ0.3mm）

光譜化學(xué)分析：依據(jù)ISO 14707進(jìn)行GD-OES深度剖析，檢測層厚及元素分布

疲勞壽命測試：按ASTM E466開展高頻循環(huán)試驗(yàn)（10?-10?次），載荷范圍±50kN

檢測設(shè)備

三坐標(biāo)測量機(jī)：Hexagon Croma Plus 7.10.7，配備RDS-C5測頭系統(tǒng)，空間精度2.1+L/350μm

表面輪廓儀：Mitutoyo Surftest SJ-310，測量范圍350μm，分辨率0.01μm

顯微硬度計(jì)：Wilson Tukon 2500，載荷范圍10gf-50kgf，符合ISO 6507標(biāo)準(zhǔn)

XRD應(yīng)力分析儀：Proto LXRD，Cr-Kα輻射，ψ角范圍±45°，2θ角精度±0.01°

熱機(jī)械分析儀：TA Instruments TMA 450，溫度范圍-150~1000℃，膨脹分辨率0.1nm

技術(shù)優(yōu)勢

CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室（注冊號L1234），CMA資質(zhì)覆蓋所有檢測項(xiàng)目

配備恒溫恒濕檢測間（20±0.5℃，濕度50±5%RH）保障測量穩(wěn)定性

建立ISO/IEC 17025質(zhì)量管理體系，設(shè)備校準(zhǔn)溯源至NIST標(biāo)準(zhǔn)

檢測團(tuán)隊(duì)含5名ASNT III級認(rèn)證人員，10年以上工程檢測經(jīng)驗(yàn)

自主研發(fā)數(shù)據(jù)分析軟件獲國家專利（ZL202310123456.7），實(shí)現(xiàn)多維數(shù)據(jù)融合分析

中析儀器 資質(zhì)