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耦合損耗的定測試

2025-02-22 關(guān)鍵詞:耦合損耗的定測試項(xiàng)目報價,耦合損耗的定測試測試標(biāo)準(zhǔn),耦合損耗的定測試測試周期 相關(guān):
耦合損耗的定測試

耦合損耗的定測試摘要:耦合損耗測定是評估光通信器件連接性能的關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo),主要針對光纖連接器、適配器及光模塊的插入損耗、回波損耗等參數(shù)進(jìn)行定量分析。本文依據(jù)ASTM、ISO及GB/T系列標(biāo)準(zhǔn),系統(tǒng)闡述檢測項(xiàng)目、材料范圍、測試方法及設(shè)備選型,重點(diǎn)涵蓋溫度循環(huán)、振動耐受性等動態(tài)環(huán)境下的損耗穩(wěn)定性驗(yàn)證,為光通信系統(tǒng)可靠性評價提供技術(shù)依據(jù)。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

插入損耗測定:波長范圍1260-1625nm,測試精度±0.1dB,涵蓋FC/PC、LC/UPC等6種接口類型

回波損耗分析:測試閾值-60dB至-20dB,分辨率0.01dB,含端面三維形貌關(guān)聯(lián)分析

溫度循環(huán)損耗:-40℃至+85℃溫變循環(huán),溫變速率5℃/min,記錄100次循環(huán)后損耗偏移量

振動耐受性測試:頻率10-2000Hz,加速度30g,三軸振動累計時長6小時

重復(fù)插拔穩(wěn)定性:機(jī)械壽命≥500次,插拔力公差±0.5N,監(jiān)測損耗波動標(biāo)準(zhǔn)差

檢測范圍

單模光纖連接器:G.652D/G.657系列,端面曲率半徑4-20mm

多模光纖組件:OM3/OM5等級,芯徑50/125μm、62.5/125μm

光纖適配器:陶瓷/金屬復(fù)合結(jié)構(gòu),插損≤0.2dB

光模塊組件:QSFP28、SFP+封裝,速率10G-400G

特種光纖連接器:耐輻照型/深海應(yīng)用型,工作溫度-60℃~+150℃

檢測方法

ASTM D4566-14:采用可調(diào)諧激光源與光功率計組合法,波長步進(jìn)0.1nm,數(shù)據(jù)采樣間隔10ms

ISO/IEC 61753-1:2018:規(guī)定溫度-濕度復(fù)合試驗(yàn)條件(85℃/85%RH),持續(xù)168小時老化測試

GB/T 9771-2020:明確光纖連接器機(jī)械耐久性測試規(guī)程,插拔角度偏差≤1°

IEC 61300-3-4:2012:定義回波損耗測量需配合消光比≥55dB的偏振控制器

GB/T 18311.3-2018:振動測試采用XYZ三軸順序加載法,單軸持續(xù)2小時

檢測設(shè)備

EXFO FTB-500光時域反射儀:動態(tài)范圍45dB,波長精度±5pm,支持雙向平均損耗計算

Keysight N7774C可調(diào)諧激光源:波長范圍1260-1630nm,輸出功率穩(wěn)定性±0.02dB

Viavi MTS-8000多參數(shù)測試平臺:集成IL/RL/POL測試模塊,采樣率1MSa/s

ESPEC PL-3KPH溫循箱:溫度梯度控制±0.5℃,支持JEDEC JESD22-A104標(biāo)準(zhǔn)

IMV KZ-200D振動試驗(yàn)機(jī):最大推力2000N,頻率控制精度±1%,符合ISO 5344標(biāo)準(zhǔn)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析耦合損耗的定測試 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師

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