參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

電氣性能測試：包括工作電壓范圍（0.6V-1.2V）、靜態(tài)電流（≤10μA）、動態(tài)功耗（≤2.5W@1GHz）、時鐘頻率偏差（±0.5%以內(nèi)）

熱穩(wěn)定性測試：運(yùn)行溫度范圍（-40℃~125℃）、熱阻值（θJA≤35℃/W）、高溫老化時長（≥1000小時@105℃）

信號完整性測試：上升/下降時間（≤0.3ns）、信號抖動（RMS≤5ps）、串?dāng)_抑制（≥-40dB@1GHz）

封裝可靠性測試：剪切強(qiáng)度（≥5kgf/mm2）、濕度敏感性等級（MSL-3）、氣密性（漏率≤1×10?? Pa·m3/s）

EMC兼容性測試：輻射發(fā)射（30MHz-1GHz ≤40dBμV/m）、靜電放電抗擾度（±8kV接觸放電）

檢測范圍

消費(fèi)電子芯片：平板電腦、智能家居控制器等低功耗場景應(yīng)用型號

工業(yè)控制芯片：PLC模塊、傳感器接口芯片等寬溫域需求產(chǎn)品

嵌入式系統(tǒng)芯片：車載信息娛樂系統(tǒng)、醫(yī)療監(jiān)護(hù)設(shè)備專用處理器

通信協(xié)處理芯片：以太網(wǎng)PHY芯片、無線模組基帶控制器

存儲控制芯片：SATA/NVMe接口控制器、Flash管理單元

檢測方法

電氣參數(shù)測試：依據(jù)GB/T 17574-2021《半導(dǎo)體器件 集成電路 第21部分：通用規(guī)范》及JESD78E（IC閂鎖測試標(biāo)準(zhǔn)）

熱特性分析：采用ASTM D5334-22非穩(wěn)態(tài)熱流法測量結(jié)殼熱阻，配合MIL-STD-883K Method 1012高溫存儲試驗(yàn)

信號質(zhì)量驗(yàn)證：基于IEC 61967-2輻射發(fā)射測試規(guī)范，使用TDR（時域反射計）進(jìn)行阻抗匹配分析

機(jī)械可靠性評估：執(zhí)行JEDEC JESD22-B117球焊剪切試驗(yàn)，結(jié)合IPC/JEDEC-9704彎曲疲勞測試標(biāo)準(zhǔn)

環(huán)境適應(yīng)性測試：參照ISO 16750-4:2023車載電子振動標(biāo)準(zhǔn)，執(zhí)行隨機(jī)振動（20Hz-2000Hz/0.04g2/Hz）

檢測設(shè)備

Keysight B1500A半導(dǎo)體分析儀：支持0.1fA-1A電流測量，完成IV曲線掃描與柵極漏電測試

Thermo Scientific T3Ster 熱阻測試系統(tǒng)：實(shí)現(xiàn)結(jié)溫瞬態(tài)測量，精度±0.01℃

Rohde & Schwarz RTO2044示波器：帶寬4GHz，用于眼圖分析與抖動測量

ESPEC EHS-211M 溫濕度試驗(yàn)箱：溫度范圍-70℃~180℃，支持溫循速率15℃/min

Nordson DAGE 4000HS 推拉力測試機(jī)：最大載荷50kg，分辨率0.01N，用于焊球剪切強(qiáng)度檢測

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)