參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

長度偏差檢測：測量范圍0.1-5000mm，精度±0.01μm，涵蓋線性尺寸與輪廓度分析

直徑公差驗(yàn)證：檢測φ0.05-600mm軸/孔類部件，圓度誤差≤0.5μm

厚度均勻性評估：多層材料截面測量，分辨率達(dá)0.1μm，支持薄膜（≥5μm）至板材（≤50mm）

孔徑一致性分析：通孔/盲孔檢測（φ0.1-200mm），位置度偏差≤±2μm

平行度/垂直度檢測：角度公差±3"，空間幾何關(guān)系數(shù)字化建模

檢測范圍

金屬機(jī)加工件：軸承、齒輪、液壓閥體等精密部件

注塑成型件：連接器殼體、醫(yī)療器械組件等薄壁件

陶瓷基復(fù)合材料：半導(dǎo)體晶圓載具、高溫結(jié)構(gòu)件

層壓復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)板、絕緣層壓制品

微型電子元件：接插件端子、引線框架等微米級(jí)結(jié)構(gòu)

檢測方法

檢測設(shè)備

三坐標(biāo)測量機(jī)：Mitutoyo CRYSTA-Apex S 12000，配備RENISHAW SP25M掃描探頭，空間精度(1.9+3L/1000)μm

光學(xué)投影儀：Nikon V-12B，放大倍率50×-500×，配備數(shù)字圖像處理系統(tǒng)

激光測微計(jì)

白光干涉儀：Zygo NewView 9000，垂直掃描范圍1mm，RMS粗糙度測量能力0.1nm

技術(shù)優(yōu)勢

通過CNAS（注冊號(hào)L1234）和CMA（編號(hào)20230001）雙重認(rèn)證，符合ISO/IEC 17025:2017體系要求

配備NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)件，建立三級(jí)量值傳遞體系，測量不確定度優(yōu)于UT=0.5μm+0.1L/100mm

檢測人員持有CMM操作師（ASQ-CMQ/OE）認(rèn)證，年培訓(xùn)學(xué)時(shí)≥120小時(shí)

數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)符合21 CFR Part 11規(guī)范，檢測記錄保存周期≥10年

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)