參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

化學(xué)成分分析：Al?O?含量（≥99.5%）、雜質(zhì)元素（Fe?O?≤0.02%、SiO?≤0.03%、Na?O≤0.05%）

物理性能測試：粒度分布（D50: 10-50μm）、比表面積（2-10m2/g）、振實密度（0.8-1.5g/cm3）

晶體結(jié)構(gòu)分析：α-Al?O?相含量（≥95%）、晶粒尺寸（0.1-2μm）

形貌特征分析：片徑厚度比（10:1-50:1）、表面平整度（SEM觀察無裂紋）

熱穩(wěn)定性測試：熱失重（≤0.5%@1000℃）、線膨脹系數(shù)（8.0×10??/K）

檢測范圍

高純片狀氧化鋁（電子陶瓷、藍(lán)寶石襯底）

工業(yè)級片狀氧化鋁（耐火材料、研磨介質(zhì)）

納米片狀氧化鋁（催化劑載體、復(fù)合材料）

改性片狀氧化鋁（表面包覆、摻雜處理）

復(fù)合材料中的片狀氧化鋁（聚合物基、金屬基）

檢測方法

ASTM E1479：電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）測定雜質(zhì)元素

ISO 13320：激光衍射法分析粒度分布

GB/T 6609：X射線熒光光譜法（XRF）測定Al?O?主含量

GB/T 13390：BET氮氣吸附法測定比表面積

ISO 20203：X射線衍射法（XRD）定量α-Al?O?相含量

檢測設(shè)備

X射線熒光光譜儀（XRF）：Thermo Scientific ARL PERFORM'X，精度±0.01%

掃描電子顯微鏡（SEM）：JEOL JSM-IT800，分辨率1nm，用于形貌觀察

激光粒度分析儀：Malvern Mastersizer 3000，量程0.01-3500μm

比表面積分析儀：Micromeritics ASAP 2460，測試范圍0.0005-10000m2/g

X射線衍射儀（XRD）：Bruker D8 ADVANCE，角度精度±0.0001°

同步熱分析儀（TGA-DSC）：NETZSCH STA 449 F5 Jupiter，溫度范圍RT-1600℃

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)