參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

偏振度（DoP）：測(cè)量范圍0~1，分辨率±0.005

消光比（ER）：測(cè)試范圍20~60dB，精度±0.2dB

相位延遲量：檢測(cè)范圍0~360°，重復(fù)性±0.1°

斯托克斯參數(shù)：S0~S3全參數(shù)測(cè)量，波長(zhǎng)范圍380~2500nm

雙折射率：測(cè)量靈敏度Δn≥1×10^-6

檢測(cè)范圍

光學(xué)薄膜：增透膜、反射膜、偏振分光膜

液晶材料：TN/VA/IPS型液晶盒

光纖器件：保偏光纖、光纖環(huán)行器

晶體材料：石英、方解石、鈮酸鋰晶體

顯示面板：LCD、OLED偏振片組件

檢測(cè)方法

ASTM D1003-21：透明塑料光學(xué)特性測(cè)試

ISO 13653:2019：光學(xué)系統(tǒng)偏振特性測(cè)量

GB/T 26827-2011：液晶顯示器件光電參數(shù)測(cè)試

GB/T 18901.2-2013：光纖器件偏振特性檢測(cè)

ISO 10110-18:2019：光學(xué)元件偏振敏感度測(cè)試

檢測(cè)設(shè)備

JASCO V-770分光偏振計(jì)：波長(zhǎng)范圍190~2700nm，支持穆勒矩陣測(cè)量

Thorlabs PAX1000偏振分析儀：1.5μm波段，消光比測(cè)量精度±0.05dB

Hinds PEM-100光彈調(diào)制系統(tǒng)：相位延遲測(cè)量分辨率0.001λ

Agilent 8509C偏振光分析儀：50MHz~40GHz微波頻段測(cè)試

Sentech SE800光譜橢偏儀：0.75~6.5eV光子能量范圍

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)