去蠟檢測(cè)摘要:去蠟檢測(cè)是工業(yè)生產(chǎn)和材料分析中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),主要用于評(píng)估材料表面或內(nèi)部蠟質(zhì)殘留量及其理化特性。核心檢測(cè)項(xiàng)目包括蠟含量、熔點(diǎn)、殘留分布等參數(shù),涉及金屬鑄件、精密零件及高分子材料等領(lǐng)域。需依據(jù)ASTM、ISO及GB/T等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范操作,確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性和工藝可靠性。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
1.蠟含量測(cè)定:采用熱重分析法(TGA)測(cè)量樣品中蠟質(zhì)質(zhì)量百分比(0.01%-30%)
2.熔點(diǎn)測(cè)試:通過(guò)差示掃描量熱儀(DSC)測(cè)定蠟質(zhì)熔融溫度范圍(40-180℃0.5℃)
3.殘留分布分析:使用顯微紅外光譜儀(μ-FTIR)掃描表面殘留厚度(0.1-50μm)
4.揮發(fā)物含量:依據(jù)GB/T9348測(cè)定105℃條件下2h揮發(fā)性物質(zhì)占比
5.灰分測(cè)試:按ISO3451標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行800℃高溫灼燒后的無(wú)機(jī)殘留量測(cè)定
1.金屬鑄造脫模劑殘留檢測(cè)(鋁合金/鎂合金/鈦合金鑄件)
2.精密注塑模具離型蠟層分析
3.陶瓷素坯成型用石蠟粘結(jié)劑含量測(cè)定
4.電子元件封裝用微晶蠟性能驗(yàn)證
5.光學(xué)玻璃拋光蠟殘留物成分鑒定
ASTMD87:石蠟熔點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
ISO6244:工業(yè)用蠟含油量測(cè)定法
GB/T8026:石油蠟和石油脂滴熔點(diǎn)測(cè)定法
ASTMD721:石油蠟含油量測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2539:石油蠟針入度測(cè)定法
1.METTLERTGA/DSC3+:同步熱分析儀,測(cè)量精度0.1μg
2.PerkinElmerSpectrumTwoFTIR:顯微紅外光譜系統(tǒng),空間分辨率10μm
3.TAInstrumentsQ5000IR:高精度熱重分析儀,最大升溫速率200℃/min
4.MalvernMastersizer3000:激光粒度儀分析蠟粉粒徑分布(0.01-3500μm)
5.Agilent7890BGC-MS:氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀檢測(cè)揮發(fā)性有機(jī)物
6.LeicaDM2700M:偏光顯微鏡觀察蠟晶體結(jié)構(gòu)(500放大倍率)
7.NetzschDIL402C:熱膨脹儀測(cè)量蠟層收縮率(分辨率0.125nm)
8.BrukerD8ADVANCE:X射線衍射儀分析蠟質(zhì)結(jié)晶度(角度精度
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析去蠟檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢(xún)?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢(xún)?cè)诰€工程師
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