參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

純度分析：≥99.5%（HPLC面積歸一法）

硫含量測(cè)定：理論值±0.3%（X射線熒光光譜法）

熔點(diǎn)范圍：158-162℃（毛細(xì)管法）

有機(jī)溶劑殘留：甲醇≤0.05%、甲苯≤0.1%（GC-FID）

熱失重分析：250℃下失重≤1.0%（TGA法）

檢測(cè)范圍

有機(jī)合成中間體：醫(yī)藥/農(nóng)藥原料藥合成體系

農(nóng)用化學(xué)品：殺蟲劑/殺菌劑配方原料

醫(yī)藥原料：抗腫瘤藥物前驅(qū)體

高分子材料：功能化聚合物添加劑

電子化學(xué)品：半導(dǎo)體清洗劑成分

檢測(cè)方法

ASTM D5623-19：硫化合物測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)方法

ISO 11358-1:2022：塑料-TGA法熱穩(wěn)定性測(cè)試

GB/T 9722-2006：化學(xué)試劑氣相色譜通則

GB 31604.8-2021：食品接觸材料溶劑殘留檢測(cè)

USP <731>：藥品熔點(diǎn)測(cè)定規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

Agilent 7890B氣相色譜儀：配備FID檢測(cè)器，用于溶劑殘留分析

Shimadzu LC-20AT高效液相色譜儀：C18色譜柱，純度檢測(cè)

Rigaku ZSX Primus IV X射線熒光光譜儀：硫元素定量分析

METTLER TGA/DSC 3+：熱重分析儀，熱穩(wěn)定性測(cè)試

BüCHI M-565熔點(diǎn)儀：數(shù)字熔點(diǎn)測(cè)定系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)