散射電勢(shì)檢測(cè)摘要:散射電勢(shì)檢測(cè)是評(píng)估材料表面電荷分布特性的重要技術(shù)手段,主要應(yīng)用于電子器件、高分子材料及功能涂層的質(zhì)量控制。檢測(cè)涵蓋表面電位、均勻性、衰減率等關(guān)鍵參數(shù),依據(jù)ASTM、ISO及GB/T等標(biāo)準(zhǔn),結(jié)合高精度靜電計(jì)及成像系統(tǒng)完成數(shù)據(jù)采集與分析,確保結(jié)果準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
表面電位測(cè)量:范圍±20 kV,精度±0.5%
電荷分布均勻性:分辨率0.1 kV/cm2,誤差≤3%
衰減時(shí)間測(cè)試:時(shí)間范圍0.1-3600秒,溫度控制±1℃
溫度依賴性分析:-40℃至150℃環(huán)境模擬
動(dòng)態(tài)響應(yīng)特性:頻率范圍1 Hz-10 kHz,相位差檢測(cè)精度±0.5°
金屬鍍層材料:鍍鋅鋼、鋁合金陽(yáng)極氧化層
高分子絕緣材料:聚酰亞胺薄膜、PTFE板材
半導(dǎo)體器件:晶圓表面、封裝基板
復(fù)合材料:碳纖維增強(qiáng)聚合物(CFRP)
功能涂層:防靜電涂料、光學(xué)鍍膜
ASTM F1249-20:非接觸式表面電位掃描方法
ISO 11343:2019:動(dòng)態(tài)電荷衰減測(cè)試規(guī)范
GB/T 31845-2015:靜電消散材料檢測(cè)通則
IEC 61340-4-1:2015:材料表面電阻測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 31470-2015:航天器表面電位控制檢測(cè)要求
Trek 345高壓靜電計(jì):測(cè)量范圍±20 kV,分辨率0.1 V,帶溫度補(bǔ)償模塊
Keyence ST-HT10電位分布成像系統(tǒng):掃描精度±0.2 kV,最大掃描面積1 m2
ESPEC PCT-320環(huán)境試驗(yàn)箱:溫控范圍-70℃至180℃,濕度控制±2% RH
Keithley 6517B靜電計(jì):支持10 fA電流檢測(cè),符合IEC 61010安全標(biāo)準(zhǔn)
Ono Sokki CF-9200頻響分析儀:頻率范圍DC-100 kHz,支持多通道同步采集
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析散射電勢(shì)檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2021-03-15
2023-06-28