表面比較儀檢測
表面比較儀檢測摘要：表面比較儀檢測是精密制造領域的關鍵質量控制手段，主要用于測量材料表面幾何特征與形位公差。核心檢測參數(shù)包括平面度、粗糙度、輪廓精度等，需依據(jù)ISO、ASTM及GB標準執(zhí)行。本文系統(tǒng)闡述檢測項目、材料適用性、方法標準及設備選型等技術規(guī)范。
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。
注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。
檢測項目
平面度誤差檢測：測量基準面與理想平面偏差，允許誤差≤0.5μm
表面粗糙度分析：Ra值范圍0.1-6.3μm，Rz值范圍0.5-25μm
輪廓度偏差測量：三維輪廓精度±2μm/m
臺階高度檢測：0.01-50mm量程，分辨率0.1μm
角度偏差測定：0-360°測量范圍，精度±0.005°
檢測范圍
金屬材料：鋁合金、不銹鋼、鈦合金等加工件
光學元件：透鏡、棱鏡、反射鏡等鍍膜表面
電子元件：半導體晶圓、PCB板、接插件觸點
塑料制品：注塑成型件、薄膜材料
陶瓷材料：結構陶瓷、功能陶瓷基板
檢測方法
| 檢測項目 | 國際標準 | 國家標準 |
|---|---|---|
| 平面度 | ISO 12781:2011 | GB/T 11337-2004 |
| 粗糙度 | ASTM D7127-17 | GB/T 1031-2009 |
| 輪廓度 | ISO 12180-2:2018 | GB/T 1958-2017 |
| 臺階高度 | ASME B46.1-2019 | GB/T 10610-2009 |
| 角度偏差 | ISO 4292:2016 | GB/T 11334-2018 |
檢測設備
Talyrond 585圓度儀
徑向測量精度0.01μm，配備多探針系統(tǒng)，支持ISO 1101標準
Mitutoyo SJ-410輪廓儀
最大檢測長度150mm，Z軸分辨率0.01μm，符合JIS B0651規(guī)范
Bruker ContourGT-K光學輪廓儀
垂直分辨率0.1nm，支持ASTM E2847標準
Zeiss Surfcom Flex 50A
粗糙度測量范圍Ra 0.01-50μm，符合GB/T 3505標準
Keyence VR-5000三維掃描儀
點距分辨率1μm，支持ISO 25178表面紋理標準
北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】
報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。
檢測周期：7~15工作日，可加急。
資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。
標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試：支持定制化試驗方案。
售后：報告終身可查，工程師1v1服務。
中析儀器 資質
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