參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

碲（Te）含量測(cè)定：檢測(cè)范圍0.01%-30%，精度±0.005%

汞（Hg）含量測(cè)定：檢測(cè)范圍0.001%-15%，精度±0.0005%

雜質(zhì)元素分析：包括Fe、Cu、Pb、Zn等，檢測(cè)限0.001%-5%

物相結(jié)構(gòu)鑒定：XRD半定量分析，分辨率≤0.02°（2θ）

粒度分布檢測(cè)：D50范圍0.1-500μm，重復(fù)性誤差＜3%

有害物質(zhì)檢測(cè)：As、Cd等重金屬，檢測(cè)限0.1-50ppm

檢測(cè)范圍

碲汞礦原礦：檢測(cè)主成分含量及伴生金屬分布

精礦產(chǎn)品：驗(yàn)證Te/Hg品位及雜質(zhì)控制水平

冶金中間品：熔煉渣、煙塵等物相與元素遷移分析

工業(yè)廢料：尾礦、廢水中的Hg殘留監(jiān)測(cè)

環(huán)境樣本：土壤、沉積物的重金屬污染評(píng)估

檢測(cè)方法

X射線熒光光譜法（XRF）：ASTM D4294，GB/T 16597

電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）：ISO 17294，GB/T 3884.3

原子吸收光譜法（AAS）：GB/T 17139，汞冷原子吸收法

X射線衍射法（XRD）：ISO 20203，JCPDS卡片比對(duì)

激光粒度分析：ISO 13320，濕法分散技術(shù)

濕化學(xué)滴定法：GB/T 8152.3，碘量法測(cè)Te含量

檢測(cè)設(shè)備

Thermo Scientific Niton XL5 XRF分析儀：現(xiàn)場(chǎng)快速元素篩查，支持Hg/Te原位檢測(cè)

Agilent 7900 ICP-MS：超痕量元素分析，檢測(cè)限達(dá)ppt級(jí)

Rigaku SmartLab X射線衍射儀：高分辨率物相分析，配備PDF-4+數(shù)據(jù)庫(kù)

Malvern Mastersizer 3000：干濕法粒度分析，量程0.01-3500μm

PerkinElmer PinAAcle 900T AAS：石墨爐與火焰聯(lián)用，支持Hg冷蒸氣模式

METTLER T5滴定儀：自動(dòng)終點(diǎn)判定，精度±0.05mL

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)