環(huán)狀冒口檢測(cè)摘要:環(huán)狀冒口檢測(cè)是鑄造工藝質(zhì)量控制的重要環(huán)節(jié),主要針對(duì)其幾何精度、力學(xué)性能及缺陷分析進(jìn)行系統(tǒng)性評(píng)估。核心檢測(cè)項(xiàng)目包括尺寸公差、表面粗糙度、硬度、氣孔率及金相組織等,需結(jié)合ASTM、ISO及國(guó)標(biāo)要求,通過(guò)高精度儀器實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)化判定,確保冒口性能符合鑄造工藝需求。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
幾何尺寸精度:直徑公差±0.05mm,高度偏差≤±0.1mm,同心度誤差≤0.08mm
表面粗糙度:Ra≤6.3μm,Rz≤25μm(接觸面區(qū)域)
硬度測(cè)試:布氏硬度HBW 150-220(鑄鐵類),洛氏硬度HRC 25-35(合金鋼類)
氣孔率分析:內(nèi)部氣孔直徑≤1.5mm,分布密度≤3個(gè)/cm2
金相組織檢驗(yàn):石墨形態(tài)評(píng)級(jí)(球化率≥85%),基體珠光體含量40-60%
球墨鑄鐵環(huán)狀冒口(QT400-18、QT600-3等牌號(hào))
不銹鋼鑄造冒口(304、316L等奧氏體不銹鋼)
鋁合金低壓鑄造冒口(A356、ZL101等)
銅合金離心鑄造冒口(H62、ZCuSn10Pb1)
耐熱鋼精密鑄造冒口(ZG40Cr25Ni20、ZG30Cr26Ni5)
ASTM E3:金相試樣制備與顯微組織觀察規(guī)范
ISO 6506-1:布氏硬度試驗(yàn)方法(載荷3000kgf,壓頭直徑10mm)
GB/T 231.1:金屬材料布氏硬度試驗(yàn)第1部分:試驗(yàn)方法
GB/T 6060.1:表面粗糙度比較樣塊鑄造表面
ASTM E1444:滲透檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)(缺陷顯示劑靈敏度2級(jí))
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī):Mitutoyo Crysta-Apex S,測(cè)量精度±1.5μm,用于幾何尺寸檢測(cè)
表面粗糙度儀:Taylor Hobson Surtronic S-100,分辨率0.01μm,支持Ra/Rz參數(shù)分析
金相顯微鏡:Olympus GX53,配備500萬(wàn)像素CMOS,支持明/暗場(chǎng)觀察
萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī):Instron 5985,載荷范圍0.02-300kN,硬度測(cè)試模塊符合ISO 6508
工業(yè)CT掃描系統(tǒng):Yxlon FF35 CT,分辨率3μm,用于內(nèi)部氣孔三維重構(gòu)分析
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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