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碲鉛礦檢測

2025-03-10 關(guān)鍵詞:碲鉛礦測試范圍,碲鉛礦測試案例,碲鉛礦測試方法 相關(guān):
碲鉛礦檢測

碲鉛礦檢測摘要:碲鉛礦檢測是礦物分析領(lǐng)域的重要環(huán)節(jié),需通過精準(zhǔn)的化學(xué)組成、晶體結(jié)構(gòu)及物理性能測試確保材料合規(guī)性。核心檢測項目包括碲、鉛含量測定,雜質(zhì)元素分析,物相鑒定及密度測試等。檢測過程需嚴(yán)格遵循ASTM、ISO及GB/T等標(biāo)準(zhǔn),結(jié)合X射線衍射儀、電感耦合等離子體光譜儀等專業(yè)設(shè)備完成數(shù)據(jù)驗(yàn)證。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

碲(Te)含量測定:檢測范圍0.01%-50%,精度±0.5%

鉛(Pb)含量測定:檢測范圍0.05%-60%,精度±0.3%

雜質(zhì)元素分析:涵蓋Cu、Fe、Ag等15種元素,檢測限0.001ppm

物相組成分析:XRD半定量分析,晶體結(jié)構(gòu)誤差≤2%

密度測試:測量范圍1-10g/cm3,分辨率0.01g/cm3

顯微硬度測試:負(fù)荷范圍10-1000g,HV標(biāo)尺誤差±3%

檢測范圍

半導(dǎo)體用高純碲鉛礦原料

冶金工業(yè)碲鉛合金中間體

碲鉛基紅外光學(xué)材料

地質(zhì)礦物標(biāo)本及礦石樣品

電子元件封裝材料

檢測方法

ASTM E1621-22:X射線熒光光譜法測定主量元素

ISO 11885:2007:ICP-OES法檢測微量雜質(zhì)元素

GB/T 17413.1-2010:X射線衍射物相定量分析方法

GB/T 3850-2015:致密燒結(jié)金屬材料密度測定

ASTM E384-22:材料顯微硬度標(biāo)準(zhǔn)測試方法

ISO 17294-2:2016:電感耦合等離子體質(zhì)譜法痕量分析

檢測設(shè)備

X射線熒光光譜儀(Shimadzu EDX-7000):元素快速定量分析

多晶X射線衍射儀(Bruker D8 Advance):晶體結(jié)構(gòu)解析

全譜直讀ICP-OES(PerkinElmer Avio 500):多元素同步檢測

高精度密度計(Mettler Toledo XS204):固體材料密度測量

顯微硬度測試系統(tǒng)(Wilson Wolpert 402MVA):維氏/努氏硬度測定

微波消解儀(CEM Mars 6):樣品前處理系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析碲鉛礦檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,請咨詢在線工程師

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