參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

化學(xué)成分分析（元素含量范圍：0.01ppm-99.9wt%）

物相結(jié)構(gòu)分析（晶型純度≥99.5%，晶胞參數(shù)誤差≤0.02?）

熱穩(wěn)定性檢測(cè)（溫度范圍：25-1600℃，失重率≤0.5%/h）

表面形貌表征（分辨率≤1nm，孔徑分布0.3-300nm）

電化學(xué)阻抗（頻率范圍：10μHz-32MHz，阻抗精度±1%）

檢測(cè)范圍

高溫陶瓷材料（氧化鋯、氧化鋁基復(fù)合材料）

金屬合金表面鈍化層（不銹鋼氧化膜、鈦合金陽(yáng)極氧化層）

催化劑載體（分子篩、活性氧化鋁）

核工業(yè)包殼材料（氧化鈹、氧化釔穩(wěn)定鋯）

電子元件介質(zhì)層（氮化硅、氧化鉿薄膜）

檢測(cè)方法

ASTM C20-00(2022) 耐火材料化學(xué)分析標(biāo)準(zhǔn)

ISO 18757:2003 納米氧化物比表面積測(cè)定

GB/T 7325-2021 陶瓷材料熱膨脹系數(shù)試驗(yàn)方法

ASTM B748-90(2021) 掃描電鏡表面粗糙度測(cè)量

GB/T 13345-2022 金屬氧化物薄膜電性能測(cè)試

檢測(cè)設(shè)備

X射線熒光光譜儀（Shimadzu EDX-7200，檢測(cè)限0.01ppm）

X射線衍射儀（PANalytical X'Pert3 Powder，角度精度±0.0001°）

熱重分析儀（PerkinElmer TGA 8000，升溫速率0.1-100℃/min）

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（JEOL JSM-IT800，分辨率0.8nm@15kV）

電化學(xué)工作站（CHI760E，電流分辨率1pA）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)