參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

化學(xué)成分分析：Ce、La、Nd等稀土元素含量（0.01-40%），SiO?、Fe?O?等雜質(zhì)含量（0.1-15%）

晶體結(jié)構(gòu)分析：晶胞參數(shù)（a=6.85?±0.02，c=3.74?±0.01），空間群P6?/mmc

物理性質(zhì)測(cè)定：密度（4.8-5.2g/cm3），莫氏硬度（5.5-6.0），折射率（1.72-1.78）

放射性檢測(cè)：U/Th含量（0.01-0.5Bq/g），γ輻射劑量率（0.2-1.5μSv/h）

熱穩(wěn)定性測(cè)試：TG-DSC分析（分解溫度＞800℃），熱膨脹系數(shù)（5.8×10??/K）

檢測(cè)范圍

礦石原樣：野外采集的褐硅鈰礦原生礦石

稀土精礦：選礦后的高純度褐硅鈰礦精礦（REO≥60%）

工業(yè)廢渣：冶金副產(chǎn)物中的褐硅鈰礦相鑒定

陶瓷材料：含褐硅鈰礦的耐高溫陶瓷基材

科研樣品：人工合成褐硅鈰礦晶體材料

檢測(cè)方法

X射線熒光光譜法（GB/T 14506.30-2022，ISO 12677:2011）

X射線衍射全譜擬合法（ISO 22278:2018，GB/T 30704-2014）

電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ASTM D5673-16，GB/T 14506.38-2021）

γ能譜分析法（GB/T 11743-2013，ISO 18589-4:2019）

同步熱分析法（ASTM E1131-20，GB/T 13464-2021）

檢測(cè)設(shè)備

X射線熒光光譜儀（XGT-7200）：實(shí)現(xiàn)0.001-100%濃度范圍的元素定量分析

多晶X射線衍射儀（Empyrean）：配備高溫附件，精度±0.0001?

高分辨ICP-MS（NexION 5000）：檢出限達(dá)0.01ppb，質(zhì)量分辨率＞10,000

低本底γ譜儀（GEM60P4-83）：配備HPGe探測(cè)器，能量分辨率＜1.8keV

同步熱分析儀（STA 449 F5）：溫度范圍RT-1600℃，靈敏度0.1μg

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)