參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

孔徑分布：檢測孔徑范圍0.1nm-500μm，分辨率達(dá)±2%

孔隙率：測量范圍0.1%-50%，精度±0.5%

孔形貌：三維重構(gòu)精度≤50nm，支持連通孔分析

滲透率：測試壓力0.01-30MPa，流量誤差±1.5%

比表面積：BET法測定范圍0.01-2000m2/g，重復(fù)性±3%

檢測范圍

金屬材料：包括粉末冶金件、鑄造合金、多孔金屬濾芯

陶瓷材料：涵蓋結(jié)構(gòu)陶瓷、功能陶瓷、多孔陶瓷膜

高分子材料：包含發(fā)泡塑料、多孔纖維、分離膜材料

復(fù)合材料：涉及碳/碳多孔體、金屬基多孔復(fù)合材料

過濾材料：針對濾紙、濾膜、蜂窩陶瓷載體等工業(yè)過濾組件

檢測方法

壓汞法（ASTM E2859、GB/T 21650.2）：適用于0.003-360μm孔徑檢測

氣體吸附法（ISO 15901-1、GB/T 19587）：用于0.35-500nm微孔分析

X射線斷層掃描（ISO 21363、GB/T 36164）：實(shí)現(xiàn)三維孔結(jié)構(gòu)無損檢測

光學(xué)顯微法（ASTM E1245、GB/T 10561）：處理50μm以上宏觀孔隙

液體滲透法（ASTM E1414、GB/T 25917）：測定開孔率及滲透特性

檢測設(shè)備

壓汞儀：Micromeritics AutoPore V系列，支持0.003-1100μm孔徑檢測

氣體吸附儀：Quantachrome NOVA 4200e，具備微孔<2nm精確分析能力

顯微CT系統(tǒng)：Bruker SkyScan 2214，分辨率0.4μm，掃描速度4min/樣本

場發(fā)射電鏡：JEOL JSM-IT800，配備EDS/EBSD聯(lián)用模塊

全自動孔隙分析儀：Porous Materials Inc. CAP-07，滿足ASTM F316標(biāo)準(zhǔn)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)