不變形顆粒檢測
不變形顆粒檢測摘要：不變形顆粒檢測是材料科學與工業(yè)制造領域的關鍵質量控制環(huán)節(jié)，重點在于評估顆粒在加工及使用過程中維持幾何形態(tài)的能力。核心檢測指標包括粒徑分布、球形度、密度均勻性等參數(shù)，需結合國際標準與精密儀器完成數(shù)據(jù)采集與分析，適用于金屬粉末、高分子材料、陶瓷原料等多元場景。
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。
注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。
檢測項目
粒徑分布：測量D10(1-5μm)、D50(10-50μm)、D90(50-200μm)
球形度偏差：要求≥0.85（1為理想球體）
密度均勻性：波動范圍≤±2%
表面粗糙度：Ra值≤0.8μm
抗壓強度：臨界值≥50MPa（視材料類別調整）
檢測范圍
金屬粉末：316L不銹鋼粉末、鈦合金粉體
高分子顆粒：ABS樹脂顆粒、PEEK工程塑料粒子
陶瓷原料：氧化鋁微球、氮化硅粉末
醫(yī)藥輔料：微晶纖維素球、硬脂酸鎂顆粒
電子材料：焊錫球（直徑0.1-0.76mm）、導電銀漿顆粒
檢測方法
ASTM B822：金屬粉末粒度分析標準方法
ISO 13322-1：靜態(tài)圖像分析法測定顆粒形態(tài)
GB/T 19077：粒度分布激光衍射法
ASTM D4179：單個球形顆?？箟簭姸葴y定
GB/T 10516：亞甲藍吸附法測比表面積
檢測設備
激光粒度分析儀：Malvern Mastersizer 3000（測量范圍0.01-3500μm）
動態(tài)圖像分析系統(tǒng)：Retsch CAMSIZER X2（形態(tài)學參數(shù)測量）
掃描電子顯微鏡：JEOL JSM-IT800（表面形貌觀察，分辨率3nm）
萬能材料試驗機：Instron 5967（壓力范圍0.02-30kN）
真密度分析儀：Micromeritics AccuPyc II 1340（氦氣置換法）
北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】
報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。
檢測周期：7~15工作日，可加急。
資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。
標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試：支持定制化試驗方案。
售后：報告終身可查，工程師1v1服務。
中析儀器 資質
中析不變形顆粒檢測 - 由于篇幅有限，僅展示部分項目，如需咨詢詳細檢測項目，請咨詢在線工程師
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