參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

氧化物類型鑒定（EDS能譜分析，XRD物相識別）

氧化物含量分析（質(zhì)量百分比0.001%-5.0%）

夾雜物尺寸分布（1μm-500μm范圍分級統(tǒng)計）

形貌特征檢測（三維形貌重構(gòu)，長徑比0.1-10）

元素分布圖譜（面掃分辨率≤1μm，元素檢測范圍B5-U92）

檢測范圍

金屬合金：不銹鋼、鋁合金、鈦合金等

陶瓷材料：氧化鋁、氮化硅、碳化硅等

電子元件：半導(dǎo)體晶圓、鍵合線、封裝材料

玻璃制品：光學(xué)玻璃、特種玻璃基板

復(fù)合材料：金屬基/陶瓷基復(fù)合材料

檢測方法

ASTM E2142-2021《金屬材料夾雜物評級標(biāo)準(zhǔn)方法》

ISO 4967:2019《鋼中非金屬夾雜物顯微檢測法》

GB/T 10561-2005《鋼中非金屬夾雜物含量的測定》

ASTM E1245-2020《自動圖像分析測定夾雜物含量》

GB/T 18876.2-2006《金屬材料定量金相測定法》

檢測設(shè)備

蔡司Sigma 500場發(fā)射掃描電鏡（5nm分辨率，EDS探測器）

布魯克D8 Advance X射線衍射儀（2θ角精度±0.0001°）

牛津儀器Ultim Max 170能譜儀（100mm2探測面積）

馬爾文Mastersizer 3000粒度分析儀（0.01-3500μm量程）

萊卡DM2700M金相顯微鏡（2000×光學(xué)放大，自動載物臺）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)