參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

元素定性分析（波長范圍：190-900nm，精度±0.1nm）

元素定量分析（檢出限：0.1ppm-10ppm，RSD≤3%）

光譜分辨率測試（半峰寬≤0.05nm，狹縫寬度5-50μm可調(diào)）

系統(tǒng)信噪比評估（S/N≥1000:1@全波段）

長期穩(wěn)定性驗證（8小時漂移≤±0.5%）

檢測范圍

金屬及合金材料（鋁、銅、鈦基合金等元素含量分析）

半導體材料（硅片摻雜濃度、GaAs/InP外延層厚度）

環(huán)境檢測樣品（土壤/水體中重金屬Pb、Cd、Hg檢測）

生物醫(yī)藥材料（藥物活性成分拉曼光譜表征）

光學鍍膜材料（膜層厚度與折射率測量）

檢測方法

ASTM E1252-17：分子光譜法通則

ISO 14707:2015：輝光放電發(fā)射光譜法

GB/T 223.3-2022：鋼鐵及合金化學分析方法

GB/T 20123-2006：鋼鐵多元素含量測定（ICP-AES法）

ISO 11885:2007：水質(zhì)-電感耦合等離子體發(fā)射光譜法

檢測設備

Thermo Scientific iCAP 7400：全譜直讀ICP-OES，支持74種元素同步分析

Agilent 4100 Microwave Plasma-AES：微波等離子體光源，適用于鹵素檢測

PerkinElmer Optima 8300：雙觀測ICP-OES系統(tǒng)，軸向/徑向雙模式切換

Shimadzu ICPE-9820：真空紫外光譜通道，支持S、P等元素檢測

Bruker S8 TIGER：波長色散X射線熒光光譜儀，配備4kW高壓發(fā)生器

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)