參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

分模線寬度公差：±0.1mm（精密級(jí)）/±0.3mm（普通級(jí)）

分模線高度偏差：≤0.05mm（平面度要求）

分模線位置精度：XY軸向偏移≤0.15mm（ISO 1101）

飛邊殘留厚度：≤0.02mm（GB/T 1804-m級(jí)）

表面粗糙度：Ra≤1.6μm（ASTM D638）

合模間隙：≤0.05mm（動(dòng)態(tài)測(cè)量值）

過渡區(qū)域圓角：R0.3-R1.0mm（GB/T 6403.4）

檢測(cè)范圍

工程塑料注塑件：ABS、PC/ABS、POM等

鋁合金壓鑄件：ADC12、A380等

橡膠密封件：EPDM、硅橡膠等

鋅合金壓鑄配件：Zamak 3/5系列

復(fù)合材料結(jié)構(gòu)件：碳纖維增強(qiáng)塑料（CFRP）

檢測(cè)方法

三坐標(biāo)測(cè)量法（CMM）：依據(jù)ISO 10360-2標(biāo)準(zhǔn)，執(zhí)行點(diǎn)距≤0.5mm的密集采點(diǎn)

白光干涉掃描：ASTM E2544規(guī)范，掃描精度±0.8μm@23℃

激光輪廓儀檢測(cè)：GB/T 34884-2017標(biāo)準(zhǔn)，采樣頻率≥10kHz

工業(yè)CT斷層掃描：ASTM E1695標(biāo)準(zhǔn)，體素分辨率≤10μm

表面粗糙度儀：ISO 4287:1997規(guī)范，截止波長λc=0.8mm

數(shù)字圖像比對(duì)：GB/T 38265.3-2019要求，像素分辨率≥5MP

檢測(cè)設(shè)備

Mitutoyo CRYSTA-Apex S系列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：配備Renishaw SP25M掃描探頭，測(cè)量精度(2.1+L/300)μm

GOM ATOS Q三維光學(xué)掃描儀：藍(lán)光LED光源，單幅測(cè)量點(diǎn)數(shù)4M，體積精度≤8μm/m3

Keyence VR-5000輪廓測(cè)量系統(tǒng)：Z軸重復(fù)精度0.02μm，最大檢測(cè)速度500mm/s

Zeiss Xradia 620 Versa工業(yè)CT：空間分辨率0.7μm，最大檢測(cè)件尺寸120mm

Taylor Hobson Form Talysurf PGI NOVUS表面輪廓儀：測(cè)量范圍±1mm，分辨率0.8nm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)