參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.光束發(fā)散角測(cè)量：測(cè)量范圍0.1-10mrad，精度0.05mrad（@632.8nm）

2.光斑直徑分析：空間分辨率≤2μm（基于CCD成像系統(tǒng)）

3.波前畸變檢測(cè)：PV值≤λ/10（λ=632.8nm），RMS≤λ/50

4.偏振態(tài)分布測(cè)試：消光比≥30dB（1550nm波段）

5.光強(qiáng)分布均勻性：中心區(qū)域不均勻性≤5%（直徑80%范圍內(nèi)）

檢測(cè)范圍

1.光學(xué)透鏡組：包括凸透鏡、凹透鏡及非球面透鏡的近軸成像質(zhì)量驗(yàn)證

2.激光器輸出光束：半導(dǎo)體激光器/固體激光器的M因子測(cè)量

3.光纖耦合系統(tǒng)：?jiǎn)文?多模光纖端面出射光場(chǎng)特性分析

4.光學(xué)薄膜元件：高反膜/增透膜的偏振敏感性測(cè)試

5.激光加工設(shè)備：切割/焊接用激光束的焦斑位置穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)

檢測(cè)方法

ISO11146-1:2021激光束寬度、發(fā)散角和光束傳播比的測(cè)試方法

ASTME284-22光學(xué)元件表面缺陷判讀標(biāo)準(zhǔn)

GB/T13739-2019激光光束寬度、發(fā)散角測(cè)試方法

ISO10110-5:2015光學(xué)元件表面波前畸變公差規(guī)范

GB/T26184-2010光學(xué)系統(tǒng)雜散光測(cè)試方法

檢測(cè)設(shè)備

ZYGOVerifire?MST干涉儀：波長(zhǎng)632.8nm，波前測(cè)量精度λ/1000PV

ThorlabsBP209-IR/M光斑分析儀：分辨率19201200像素，光譜范圍400-1700nm

OphirBeamGage-ULTRA：光強(qiáng)分布測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍70dB@532nm

NewportLP-3旋轉(zhuǎn)平臺(tái)：角度定位精度0.005，負(fù)載能力5kg

HamamatsuC12880MA微型光譜儀：波長(zhǎng)范圍340-850nm，積分時(shí)間10ms-10s

KeysightN7788B偏振分析儀：波長(zhǎng)范圍1260-1640nm，消光比測(cè)量精度0.1dB

PrimesFocusMonitorFM：焦斑位置重復(fù)性0.5μm（@1064nm）

CoherentModeMasterUltra：M因子測(cè)量不確定度＜3%（符合ISO標(biāo)準(zhǔn)）

LabsphereLMS-7600光輻射安全測(cè)試系統(tǒng)：符合IEC60825-1Class標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)