傍軸光線檢測(cè)摘要:傍軸光線檢測(cè)是光學(xué)元件與系統(tǒng)質(zhì)量控制的核心環(huán)節(jié),重點(diǎn)評(píng)估光束傳播特性及近軸區(qū)域的光學(xué)性能。關(guān)鍵檢測(cè)參數(shù)包括光束發(fā)散角、波前畸變、光斑均勻性等指標(biāo),適用于激光器、光纖器件及精密光學(xué)組件的性能驗(yàn)證。本文依據(jù)ISO、ASTM及GB/T標(biāo)準(zhǔn)體系解析檢測(cè)流程與技術(shù)要求。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
1.光束發(fā)散角測(cè)量:測(cè)量范圍0.1-10mrad,精度0.05mrad(@632.8nm)
2.光斑直徑分析:空間分辨率≤2μm(基于CCD成像系統(tǒng))
3.波前畸變檢測(cè):PV值≤λ/10(λ=632.8nm),RMS≤λ/50
4.偏振態(tài)分布測(cè)試:消光比≥30dB(1550nm波段)
5.光強(qiáng)分布均勻性:中心區(qū)域不均勻性≤5%(直徑80%范圍內(nèi))
1.光學(xué)透鏡組:包括凸透鏡、凹透鏡及非球面透鏡的近軸成像質(zhì)量驗(yàn)證
2.激光器輸出光束:半導(dǎo)體激光器/固體激光器的M因子測(cè)量
3.光纖耦合系統(tǒng):?jiǎn)文?多模光纖端面出射光場(chǎng)特性分析
4.光學(xué)薄膜元件:高反膜/增透膜的偏振敏感性測(cè)試
5.激光加工設(shè)備:切割/焊接用激光束的焦斑位置穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)
ISO11146-1:2021激光束寬度、發(fā)散角和光束傳播比的測(cè)試方法
ASTME284-22光學(xué)元件表面缺陷判讀標(biāo)準(zhǔn)
GB/T13739-2019激光光束寬度、發(fā)散角測(cè)試方法
ISO10110-5:2015光學(xué)元件表面波前畸變公差規(guī)范
GB/T26184-2010光學(xué)系統(tǒng)雜散光測(cè)試方法
ZYGOVerifire?MST干涉儀:波長(zhǎng)632.8nm,波前測(cè)量精度λ/1000PV
ThorlabsBP209-IR/M光斑分析儀:分辨率19201200像素,光譜范圍400-1700nm
OphirBeamGage-ULTRA:光強(qiáng)分布測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍70dB@532nm
NewportLP-3旋轉(zhuǎn)平臺(tái):角度定位精度0.005,負(fù)載能力5kg
HamamatsuC12880MA微型光譜儀:波長(zhǎng)范圍340-850nm,積分時(shí)間10ms-10s
KeysightN7788B偏振分析儀:波長(zhǎng)范圍1260-1640nm,消光比測(cè)量精度0.1dB
PrimesFocusMonitorFM:焦斑位置重復(fù)性0.5μm(@1064nm)
CoherentModeMasterUltra:M因子測(cè)量不確定度<3%(符合ISO標(biāo)準(zhǔn))
LabsphereLMS-7600光輻射安全測(cè)試系統(tǒng):符合IEC60825-1Class標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析傍軸光線檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
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