電容耦合系數(shù)檢測(cè)摘要:電容耦合系數(shù)檢測(cè)是評(píng)估電子元件及材料絕緣性能的重要指標(biāo),涉及介電常數(shù)、介質(zhì)損耗、頻率響應(yīng)等核心參數(shù)。檢測(cè)涵蓋陶瓷、薄膜、聚合物等材料,需依據(jù)ASTM、IEC、GB/T等標(biāo)準(zhǔn),采用精密阻抗分析儀及專用夾具,確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性和重復(fù)性,適用于電容器、高頻電路基板等產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
介電常數(shù)(εr):測(cè)試范圍2.2-10.0@1MHz
介質(zhì)損耗角正切(tanδ):精度±0.0001@1kHz-1MHz
電容溫度特性(TCC):-55℃~+125℃溫變測(cè)試
頻率響應(yīng)特性:10Hz-10MHz頻段掃描
絕緣電阻(IR):≥1012Ω@500VDC
多層陶瓷電容器(MLCC)
聚丙烯薄膜電容器
高頻電路基板材料(PTFE/FR4)
高壓電力電容器組件
鋁/鉭電解電容器
ASTM D150-11(2018):固體電絕緣材料交流損耗特性及電容率標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
IEC 60250:1969:測(cè)量電氣絕緣材料高頻性能推薦方法
GB/T 1409-2006:測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下介電性能
JIS C2138-2007:塑料薄膜介電強(qiáng)度試驗(yàn)方法
MIL-PRF-123B:軍用規(guī)范電容器的通用要求
Keysight E4990A阻抗分析儀:20Hz-120MHz,基本精度0.045%
Agilent 4294A精密阻抗分析儀:40Hz-110MHz,四端對(duì)測(cè)量
Chroma 19032電容測(cè)試系統(tǒng):±0.05%讀數(shù)精度,100Vrms測(cè)試電壓
ESPEC PCT-322溫控箱:-70℃~+180℃溫度循環(huán)
Tettex 2963高壓絕緣電阻測(cè)試儀:0-10kV可調(diào),1015Ω量程
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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