參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

直線度誤差：測量范圍±0.02mm/m，分辨率0.001mm

垂直度偏差：允許公差±0.03°（對應(yīng)GB/T 1184-H級）

平行度誤差：檢測精度±0.01mm/100mm

表面粗糙度：Ra值檢測范圍0.1-12.5μm

位置公差：軸向偏移量檢測±0.015mm

檢測范圍

金屬材料：鋁合金型材、不銹鋼板、鈦合金結(jié)構(gòu)件

復(fù)合材料：碳纖維層壓板、玻璃鋼構(gòu)件

塑料制品：工程塑料注塑件、PVC型材

陶瓷基板：氧化鋁陶瓷基片、氮化硅精密部件

光學(xué)元件：棱鏡基準(zhǔn)邊、光柵定位邊

檢測方法

ASTM E177-14：幾何公差測量不確定度評定方法

ISO 1101:2017：產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）形位公差

GB/T 1958-2017：產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS）形狀和位置公差檢測規(guī)定

GB/T 10610-2009：表面粗糙度比較樣塊校準(zhǔn)規(guī)范

ISO 4287:1997：表面結(jié)構(gòu)的輪廓法術(shù)語、定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)

檢測設(shè)備

三坐標(biāo)測量機(jī)：Mitutoyo CRYSTA-Apex S，測量精度±(1.5+L/200)μm

激光干涉儀：Renishaw XL-80，線性測量分辨率0.001μm

電子水平儀：WYLER Clinomic 720，角度分辨率0.001°

表面輪廓儀：Taylor Hobson Form Talysurf i-Series，Ra檢測重復(fù)性0.002μm

光學(xué)投影儀：Nikon V-12B，放大倍率50X-500X

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)