參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

接觸電阻：測(cè)量靜態(tài)接觸電阻（≤10mΩ）與動(dòng)態(tài)變化率（±5%）

硬度：顯微維氏硬度（HV0.1，范圍50-300HV）

耐腐蝕性：中性鹽霧試驗(yàn)（48h，腐蝕面積≤5%）

抗電弧侵蝕性：電弧能量（5-50A/10-100V）下的材料損耗率（≤0.1mg/千次）

溫升特性：額定電流下觸點(diǎn)溫升（ΔT≤75K）

檢測(cè)范圍

銀基合金觸點(diǎn)：AgCdO15、AgNi10等低壓電器材料

銅基復(fù)合材料：CuCr40、CuW70等高負(fù)載觸點(diǎn)

金基復(fù)合材料：AuNi9、AuCo5等精密接插件

鎢基材料：WCu30、WAg50等高壓開關(guān)觸點(diǎn)

復(fù)合鍍層材料：AgSnO2（鍍層厚度10-50μm）

檢測(cè)方法

接觸電阻測(cè)試：ASTM B667四探針法/GB/T 5587-2016

硬度檢測(cè)：ISO 6507-1顯微維氏硬度法/GB/T 4340.1

鹽霧試驗(yàn)：ISO 9227中性鹽霧標(biāo)準(zhǔn)/GB/T 2423.17

電弧壽命測(cè)試：IEC 60413/GB/T 14048.1-2023

溫升試驗(yàn)：UL 1059溫升曲線法/GB/T 14048.4

檢測(cè)設(shè)備

Keysight 34461A四探針電阻測(cè)試儀：接觸電阻測(cè)量精度±0.02%

Mitutoyo HM-200顯微硬度計(jì)：0.1-1000HV量程，光學(xué)放大500×

Q-Fog CCT鹽霧試驗(yàn)箱：溫度波動(dòng)度±1℃，噴霧沉降量1.5mL/h

AMETEK CTS-100電弧模擬系統(tǒng)：最大通斷電流200A，電壓1kV

FLIR A655sc紅外熱像儀：熱靈敏度0.03℃，空間分辨率640×480

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)