參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

碘化鍶含量測定（SrI?≥99.5%）

游離水分檢測（≤0.2% w/w）

重金屬殘留分析（Pb≤10ppm，Cd≤5ppm）

晶體結(jié)構(gòu)表征（XRD衍射角偏差≤0.02°）

粒度分布檢測（D50=5-15μm，Span值≤1.8）

熱穩(wěn)定性測試（TG-DSC，分解溫度≥400℃）

檢測范圍

高純度化學(xué)試劑（分析純/色譜純級別）

核醫(yī)學(xué)顯影劑原料

半導(dǎo)體摻雜材料（單晶硅/砷化鎵基材）

閃爍晶體生長用前驅(qū)體

特種光學(xué)玻璃添加劑

鋰離子電池固態(tài)電解質(zhì)中間體

檢測方法

GB/T 223.5-2023 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）

ASTM E203-24 卡爾費休庫侖法水分測定

ISO 3856:2021 原子吸收光譜法重金屬檢測

ASTM E1941-23 X射線衍射晶體結(jié)構(gòu)分析

GB/T 19077-2023 激光粒度分析儀檢測標準

ISO 11358:2023 熱重-差示掃描量熱聯(lián)用（TG-DSC）

檢測設(shè)備

PerkinElmer Avio 200 ICP-OES：痕量元素定量分析（檢測限0.01ppm）

Metrohm 899 Coulometer：微量水分測定（分辨率0.1μg）

Bruker D8 Advance XRD：晶體結(jié)構(gòu)解析（2θ范圍5-140°）

Malvern Mastersizer 3000：納米至毫米級粒度分析

Mettler TGA/DSC 3+：同步熱分析（溫度范圍25-1600℃）

Agilent 240Z AA：重金屬痕量檢測（火焰/石墨爐雙模式）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)