參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

時間常數(shù)測量：驗證0.1μs-10s范圍內(nèi)的時間參數(shù)偏差值（3%容差）

線性度誤差分析：在輸入斜率電壓下測試輸出偏離理想曲線的最大偏差（≤0.5%）

頻率響應(yīng)特性：測定1Hz-1MHz頻段內(nèi)增益波動幅度（1dB基準）

溫度漂移系數(shù)：評估-40℃至+85℃溫區(qū)內(nèi)積分精度變化率（≤50ppm/℃）

噪聲抑制比：量化電源噪聲與輸出紋波的衰減能力（≥60dB@100kHz）

檢測范圍

運算放大器型積分電路：AD823AN/LT1014等精密運放構(gòu)成的積分單元

RC無源積分網(wǎng)絡(luò)：陶瓷/薄膜電容與金屬膜電阻組合電路

數(shù)字積分器模塊：FPGA/DSP實現(xiàn)的Σ-Δ架構(gòu)數(shù)字積分系統(tǒng)

混合信號集成電路：AD7745/AD5933等集成式電荷轉(zhuǎn)換器件

定制化ASIC芯片：專用集成化時間常數(shù)調(diào)節(jié)電路模組

檢測方法

GB/T4377-2018《半導體集成電路電壓比較器測試方法》第5.3節(jié)時域特性測量

IEC60748-4-3:2017《半導體器件集成電路第4-3部分：模擬信號處理電路》

ASTMF1241-2020《電子元件時域反射測量標準指南》脈沖響應(yīng)測試流程

GJB548C-2021《微電子器件試驗方法和程序》方法3015溫度循環(huán)試驗

ISO16750-2:2022《道路車輛電氣電子設(shè)備環(huán)境條件》電源瞬態(tài)干擾測試

檢測設(shè)備

KeysightDSOX4034A示波器：4GHz帶寬/20GSa/s采樣率時域波形分析

TektronixAFG31000函數(shù)發(fā)生器：250MHz最大輸出頻率/16bit垂直分辨率

Fluke8508A參考級萬用表：8.5位分辨率/0.001%基本直流精度測量

Chroma19032可編程電源：0-60V/0-30A輸出/500μVrms低噪聲特性

Keithley4200-SCS半導體分析儀：皮安級電流測量/IV-CV特性掃描

Rohde&SchwarzRTE1024頻譜儀：10Hz-2GHz頻寬/-165dBm顯示平均噪聲電平

ThermotronESX-225M環(huán)境箱：-70℃~+180℃溫控/5℃/min變溫速率

EMTestLSP5000B浪涌發(fā)生器：6kV組合波脈沖/30ns上升沿模擬能力

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)