參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

溫度范圍：-70℃至+200℃，可定制超寬溫區(qū)

循環(huán)次數(shù)：10次至1000次（依據(jù)產(chǎn)品壽命需求）

升降溫速率：5℃/min至20℃/min（±1℃/min精度）

駐留時(shí)間：高溫/低溫階段保持30分鐘至2小時(shí)

轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤5分鐘（溫度恢復(fù)至設(shè)定值）

檢測(cè)范圍

電子元件：集成電路、PCB基板、半導(dǎo)體封裝器件

金屬材料：鋁合金焊接件、鈦合金航空部件

高分子材料：工程塑料殼體、橡膠密封件

涂層材料：防腐涂層附著力測(cè)試

復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)塑料層壓結(jié)構(gòu)

檢測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-14（環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)N 溫度變化）、ASTM E1641-16（非金屬材料熱循環(huán)試驗(yàn)）

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.22-2012（環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)N 溫度變化）、GB 10592-2008（高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件）

行業(yè)規(guī)范：JESD22-A104-F（半導(dǎo)體器件溫度循環(huán)測(cè)試）

檢測(cè)設(shè)備

ESPEC TSE-11-A型三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱：溫區(qū)覆蓋-70℃至+180℃，轉(zhuǎn)換時(shí)間＜3分鐘

Thermotron SM-32高低溫循環(huán)箱：支持20℃/min線性變溫速率

ACS T-40雙區(qū)熱流儀：適用于微小樣品快速溫變測(cè)試

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)：Keysight 34972A多通道溫度記錄儀（分辨率0.01℃）

輔助裝置：真空防凝露模塊（濕度控制＜15%RH）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)