參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

曲率半徑偏差：±0.05% @632.8nm波長基準(zhǔn)

面形偏差PV值：≤λ/4（λ=632.8nm）

局部斜率誤差：＜0.5μrad RMS

非球面系數(shù)偏離度：Δk≤1×10??

邊緣塌邊量：≤3μm@有效孔徑95%區(qū)域

檢測范圍

光學(xué)玻璃材質(zhì)球面/非球面透鏡

樹脂模壓非球面鏡片

紅外硫系玻璃透鏡

微透鏡陣列（MLA）器件

自由曲面醫(yī)用內(nèi)窺鏡物鏡

檢測方法

ASTM E903-20：光學(xué)元件表面質(zhì)量干涉測量規(guī)范

ISO 10110-5:2015：光學(xué)元件面形公差標(biāo)注規(guī)范

GB/T 2831-2021：光學(xué)零件面形偏差測試方法

ISO 14997:2012：光學(xué)表面缺陷定量評估標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 7661-2009：光學(xué)零件曲率半徑測量方法

檢測設(shè)備

Zygo Verifire MST+激光干涉儀：波長632.8nm，分辨率0.1nm PV值測量

Taylor Hobson PGI 3D輪廓儀：Z軸分辨率0.8nm的非接觸式三維形貌分析

Trioptics OptiCentric雙光路中心偏測量系統(tǒng)：角度精度±15"的光軸一致性檢測

Mitutoyo CMM-Crysta Apex S坐標(biāo)測量機：空間精度(1.9+L/250)μm的幾何參數(shù)測定

4D Technology PhaseCam干涉儀：動態(tài)范圍±150μm的高速瞬態(tài)面形捕捉

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)