參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

表面粗糙度：Ra值（0.01-25μm）、Rz值（0.1-100μm）、波紋度（波長(zhǎng)0.08-8mm）

劃痕缺陷：長(zhǎng)度（≥50μm）、寬度（5-200μm）、深度（0.1-10μm）

微裂紋檢測(cè)：開(kāi)口寬度（0.5-50μm）、延伸長(zhǎng)度（100μm-5mm）

涂層厚度：金屬鍍層（0.1-500μm）、非金屬涂層（1-2000μm）

腐蝕評(píng)估：點(diǎn)蝕密度（個(gè)/cm2）、最大蝕坑深度（10-1000μm）

檢測(cè)范圍

金屬材料：不銹鋼板材、鋁合金鑄件、鈦合金精密部件

塑料制品：注塑成型件、薄膜材料、光學(xué)級(jí)聚合物

陶瓷材料：結(jié)構(gòu)陶瓷基板、功能陶瓷涂層

電子元件：PCB電路板焊點(diǎn)、半導(dǎo)體晶圓表面

玻璃制品：平板顯示玻璃、光學(xué)透鏡基材

檢測(cè)方法

接觸式輪廓法：ISO 4287/GB/T 3505 粗糙度測(cè)量規(guī)范

激光共聚焦法：ASTM F2459 三維形貌重建標(biāo)準(zhǔn)

渦流測(cè)厚法：GB/T 4957 非磁性基體金屬鍍層測(cè)量

金相顯微法：ASTM E3/E407 微觀缺陷觀測(cè)規(guī)程

熒光滲透檢測(cè)：ISO 3452-1 表面開(kāi)口裂紋探傷標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)設(shè)備

Mitutoyo SJ-410粗糙度儀：接觸式探針測(cè)量系統(tǒng)（分辨率0.01μm）

Olympus DSX1000數(shù)碼顯微鏡：20-7000倍光學(xué)放大系統(tǒng)

Bruker ContourGT-X3白光干涉儀：垂直分辨率0.1nm三維形貌儀

Fischer MP0渦流測(cè)厚儀：非接觸式鍍層測(cè)量（量程0.1-2000μm）

YXLON FF35 CT掃描系統(tǒng)：工業(yè)級(jí)微焦點(diǎn)X射線斷層成像裝置

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)