參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

裂紋檢測(cè)：長(zhǎng)度≥0.1mm，寬度≥5μm，深度≥10μm

劃痕檢測(cè)：長(zhǎng)度≥0.5mm，寬度≥20μm，深度≥8μm

凹坑檢測(cè)：直徑≥0.3mm，深度≥15μm

氧化層缺陷：厚度偏差±2μm

涂層均勻性：覆蓋率≥98%，厚度公差±3μm

檢測(cè)范圍

金屬材料：鋼板（0.1-50mm）、鋁合金型材（6061/7075）、鈦合金鍛件

高分子材料：ABS注塑件（壁厚≥1.2mm）、PC光學(xué)膜（厚度0.05-0.5mm）

陶瓷材料：氧化鋁基板（Ra≤0.1μm）、氮化硅軸承球（直徑Φ3-50mm）

電子元件：PCB線路板（線寬≥50μm）、半導(dǎo)體晶圓（直徑200/300mm）

汽車零部件：發(fā)動(dòng)機(jī)缸體（粗糙度Ra0.4-1.6μm）、變速箱齒輪（模數(shù)1-8）

檢測(cè)方法

ASTM E1255-20：數(shù)字射線檢測(cè)金屬內(nèi)部裂紋

ISO 8785:1998：表面粗糙度光學(xué)輪廓法

GB/T 33643-2017：激光三維掃描幾何缺陷分析

ASTM B748-90(2021)：渦流法測(cè)量非鐵磁金屬表面缺陷

GB/T 38892-2020：機(jī)器視覺在線檢測(cè)技術(shù)規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

Olympus OmniScan X3：64通道相控陣超聲探傷儀（頻率1-20MHz）

Keyence VR-5000：三維形貌測(cè)量系統(tǒng)（分辨率0.01μm）

Cognex In-Sight 9400：深度學(xué)習(xí)視覺系統(tǒng)（500萬像素/10μm精度）

Bruker ContourGT-X8：白光干涉儀（垂直分辨率0.1nm）

ZEISS Axio Imager 2：金相顯微鏡（最大放大倍數(shù)1500×）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)