參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

粒子密度分布：單位面積粒子數(shù)≥5000個(gè)/mm2

粒徑均勻性：D50值0.5-5.0μm（CV≤15%）

爆破壓力閾值：1.5-3.0MPa（±0.2MPa）

界面結(jié)合強(qiáng)度：≥8.0N/mm（90°剝離測試）

熱穩(wěn)定性：250℃/30min后粒徑變化率≤5%

導(dǎo)電性能：各向異性電阻≤1.0Ω·cm

檢測范圍

異方性導(dǎo)電膠膜（ACF）：包括環(huán)氧樹脂基/聚酰亞胺基材料

柔性顯示面板：OLED/LCD驅(qū)動IC綁定區(qū)域

半導(dǎo)體封裝材料：CSP/BGA封裝用導(dǎo)電膠層

微型連接器：間距≤50μm的FPC連接界面

三維堆疊器件：TSV硅通孔互連結(jié)構(gòu)

檢測方法

ASTM F3128-2022：微米級導(dǎo)電粒子分布分析標(biāo)準(zhǔn)

ISO 16232-10:2021：表面污染物定量評估方法

GB/T 7124-2018：膠粘劑拉伸剪切強(qiáng)度測定

IPC-TM-650 2.4.18：熱壓結(jié)合界面完整性測試

GB/T 35104-2017：各向異性導(dǎo)電膜電阻測試規(guī)范

檢測設(shè)備

馬爾文 Mastersizer 3000：激光衍射法粒徑分析（0.01-3500μm）

Keyence VHX-7000數(shù)碼顯微鏡：5000倍率下粒子計(jì)數(shù)與形貌分析

Instron 5943萬能材料試驗(yàn)機(jī)：0.001-30kN壓力精度控制

Agilent B2902A精密源表：10nA-3A/10μV-210V電阻測量

Thermo Scientific Apreo SEM：場發(fā)射電鏡納米級界面觀測

Espec PCT-100壓力蒸煮試驗(yàn)箱：溫度/濕度/壓力三綜合老化測試

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)