切斷法光纖衰減與損耗檢測摘要:切斷法光纖衰減與損耗檢測是評估光纖傳輸性能的核心技術(shù)手段,通過精確測量插入損耗、回波損耗及光譜特性等參數(shù),為通信系統(tǒng)可靠性提供數(shù)據(jù)支持。本文重點(diǎn)闡述檢測項(xiàng)目參數(shù)、適用材料類型、國際/國家標(biāo)準(zhǔn)方法及關(guān)鍵設(shè)備配置要求,適用于光纖制造與通信工程領(lǐng)域的質(zhì)量控制。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
光纖衰減系數(shù):波長范圍1310/1550nm±5nm,測量精度±0.02dB/km
接頭插入損耗:單模≤0.15dB(典型值),多?!?.25dB(典型值)
彎曲損耗:彎曲半徑5mm~30mm下測量附加損耗值
回波損耗:單?!?0dB(PC型接頭),APC型≥65dB
偏振相關(guān)損耗(PDL):≤0.05dB@1550nm波長
單模通信光纖:G.652D/G.657A1等ITU-T標(biāo)準(zhǔn)光纖
多模漸變折射率光纖:OM3/OM4/OM5等級別
塑料光纖(POF):芯徑0.5mm~1.0mm規(guī)格
抗彎曲特種光纖:G.657.B3微彎不敏感型
光纜組件:含MPO/MTP多芯連接器組件
ISO/IEC 61280-4-1:2019 光纖子系統(tǒng)測試程序-衰減測量
TIA-455-78-C 光功率損失測量標(biāo)準(zhǔn)程序
GB/T 15972.40-2008 光纖試驗(yàn)方法規(guī)范-衰減的截斷法測試
ASTM D4566-19 電信光纜性能特征測量標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60793-1-40:2019 光纖第1-40部分:衰減測量方法
EXFO FTB-200 光時域反射儀(OTDR):動態(tài)范圍45dB@1625nm
Keysight N7788B 光波元件分析儀:波長范圍1260~1640nm
AFL FOA-2000 光纖切割刀:切割角度≤0.5°,重復(fù)精度±0.1μm
Viavi MTS-8000 多業(yè)務(wù)測試平臺:支持LSA/截斷法雙模式測量
SANTEC MLS-3100 可調(diào)諧激光光源:波長精度±5pm,輸出功率+10dBm
Aglient 8163B 光功率計:測量范圍-80~+23dBm,精度±0.02dB
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析切斷法光纖衰減與損耗檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師
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