參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

鏡面反射率（波長范圍250-2500nm）

漫反射率（積分球法測量）

半球發(fā)射率（熱紅外波段8-14μm）

角度依賴性反射率（入射角5°-85°）

溫度穩(wěn)定性測試（-40℃至300℃）

檢測范圍

光學(xué)薄膜：增透膜、高反膜、分光膜

太陽能選擇性吸收涂層（Cermet基復(fù)合材料）

金屬鍍膜：鋁、銀、金納米薄膜

透明導(dǎo)電氧化物薄膜（ITO、FTO）

航天器熱控涂層（低α/ε比值材料）

檢測方法

ASTM E903: 材料太陽吸收比與半球發(fā)射率測定

ISO 18434-1: 紅外熱像法發(fā)射率測量規(guī)范

GB/T 25968-2010: 分光光度法測量材料太陽吸收比

ISO 9050: 建筑玻璃可見光透射比與反射比測定

GB/T 2680-2021: 建筑玻璃可見光透射比測試方法

檢測設(shè)備

PerkinElmer Lambda 1050: 紫外-可見-近紅外分光光度計(jì)（175-3300nm）

TFS Nicolet iS50 FTIR: 傅里葉變換紅外光譜儀（中遠(yuǎn)紅外分析）

SCHMIDT+HAENSCH Goniophotometer GS-8: 高精度變角反射測量系統(tǒng)

SINKU-RIKO EPA-3000: 真空低溫輻射率測試裝置（ε=0.02-1.00）

SENTECH SE800 PVCD: 橢偏儀（納米級膜厚與光學(xué)常數(shù)分析）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)