參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

表面缺陷：包括麻點(diǎn)、崩邊等不規(guī)則瑕疵，允許最大尺寸≤0.05mm

劃痕等級(jí)：按MIL-PRF-13830B標(biāo)準(zhǔn)劃分10級(jí)，寬度≤5μm為合格

氣泡與雜質(zhì)：直徑≤0.1mm且密度≤3個(gè)/cm2

鍍膜均勻性：膜厚公差±5nm（λ=550nm）

曲率半徑偏差：允許誤差±0.02mm（R≥50mm）

邊緣崩缺：軸向崩缺深度≤0.2mm

檢測(cè)范圍

樹脂鏡片：CR-39、MR系列高折射率材料

玻璃鏡片：BK7光學(xué)玻璃、熔融石英

PC鏡片：聚碳酸酯抗沖擊鏡片

鍍膜鏡片：AR增透膜、防水防污膜層

非球面鏡片：高精度自由曲面加工件

檢測(cè)方法

ISO 10110-7:2016：表面缺陷評(píng)價(jià)與分級(jí)方法

ASTM D1003-21：透射式霧度計(jì)測(cè)量劃痕散射率

GB/T 26331-2010：光學(xué)薄膜厚度測(cè)試規(guī)范

ISO 14997:2012：激光干涉法測(cè)量面形精度（PV值≤λ/4）

SJ/T 11477-2014：工業(yè)內(nèi)窺鏡檢測(cè)內(nèi)部氣泡分布

檢測(cè)設(shè)備

尼康MM-400測(cè)量顯微鏡: 2000倍光學(xué)放大+CCD圖像分析系統(tǒng)（精度±0.5μm）

Tropel UltraScan干涉儀: 波長(zhǎng)632.8nm氦氖激光源（面形分辨率λ/100）

TESA Micro-Hite 3D高度計(jì): 接觸式測(cè)頭（Z軸重復(fù)精度0.1μm）

奧林巴斯OLS5000激光共聚焦顯微鏡: 405nm激光掃描（三維形貌重建）

Spectral Products DK-240分光光度計(jì): 190-2500nm寬光譜膜厚測(cè)量（±1nm精度）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)