參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.折射率測定：采用阿貝折射儀測量紅紫晶雙折射率（1.544-1.553），判定光學均質(zhì)性。

2.密度測試：通過靜水稱重法計算樣品密度（標準值2.65g/cm0.03），識別充填處理痕跡。

3.紫外-可見光譜分析：記錄200-800nm吸收光譜特征峰（如550nm鐵致色吸收帶）。

4.紅外光譜檢測：分析4000-400cm?波段羥基振動峰位（3595cm?、3484cm?），鑒別熱處理改性。

5.包裹體顯微觀察：使用40倍體視顯微鏡記錄氣液兩相包裹體形態(tài)及分布特征。

檢測范圍

1.天然紅紫晶原石及刻面寶石

2.合成水熱法/焰熔法紅紫晶制品

3.珠寶鑲嵌首飾（戒面、吊墜等）

4.工業(yè)用壓電晶體材料

5.染色/輻照處理優(yōu)化品

檢測方法

ASTMB923-21《金屬材料密度測定標準方法》

ISO11426:2023《珠寶首飾貴金屬含量測定》

GB/T16552-2017《珠寶玉石名稱》

GB/T16553-2017《珠寶玉石鑒定》

ASTME1245-03(2021)《光譜化學分析中數(shù)據(jù)評估規(guī)程》

檢測設備

1.ThermoScientificARLQuant'XEDXRF熒光光譜儀：元素成分定量分析（Na-U）

2.ShimadzuUV-2600i分光光度計：200-1400nm全波段透射/反射光譜采集

3.MettlerToledoXS204電子天平：精度0.0001g靜水稱重系統(tǒng)

4.NikonSMZ25體視顯微鏡：20-50倍連續(xù)變倍觀察系統(tǒng)

5.BrukerVERTEX70vFTIR紅外光譜儀：中紅外區(qū)分子結(jié)構(gòu)分析

6.RenishawinViaQontor拉曼光譜儀：532/785nm激光激發(fā)晶體振動譜

7.GIAGemologicalRefractometer：折射率測量范圍1.30-1.81

8.BuehlerWilsonTukon1200硬度計：維氏/努氏硬度測試模塊

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)