參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.導(dǎo)電涂層厚度測(cè)量：量程0.1-500μm|精度(1%+0.5μm)

2.絕緣介質(zhì)層厚度：分辨率0.1μm|重復(fù)性≤2%

3.多層復(fù)合結(jié)構(gòu)分層測(cè)量：最大穿透層數(shù)8層|層間識(shí)別精度3μm

4.表面粗糙度補(bǔ)償測(cè)量：Ra值補(bǔ)償范圍0.05-6.3μm

5.基底材料影響校正：支持鋼/鋁/銅/塑料等基底補(bǔ)償算法

檢測(cè)范圍

1.金屬表面處理：鍍鋅層/陽(yáng)極氧化膜/化學(xué)鍍鎳層

2.電子元器件：PCB阻焊層/芯片封裝膠厚/引線框架鍍層

3.光學(xué)薄膜：ITO導(dǎo)電膜/AR增透膜/防眩光涂層

4.工業(yè)防腐涂層：環(huán)氧樹脂/聚氨酯/氟碳涂料體系

5.新能源材料：鋰電池隔膜/光伏背板/PVDF薄膜

檢測(cè)方法

ASTMB499-09(2021)磁性法測(cè)量非磁性基底金屬鍍層厚度

ISO2360:2017非導(dǎo)電基體上非磁性金屬鍍層的渦流測(cè)量法

GB/T4956-2003磁性基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性法

GB11378-2005金屬覆蓋層厚度測(cè)量β射線反向散射法

ISO3497:2000金屬鍍層X(jué)射線光譜測(cè)量法

檢測(cè)設(shè)備

1.FischerMP0R：四探頭復(fù)合式測(cè)厚儀|磁感/渦流雙模|0.5μm精度

2.Elcometer456：數(shù)字式涂層測(cè)厚儀|F型/N型探頭|溫度補(bǔ)償功能

3.Olympus38DLPLUS：超聲脈沖回波測(cè)厚儀|0.15-500mm量程

4.DefelskoPosiTector6000：電磁感應(yīng)原理|IP67防護(hù)等級(jí)

5.HitachiX-MET8000：XRF熒光測(cè)厚儀|元素分析+厚度測(cè)量雙功能

6.MitutoyoLITEMATICHG-103：激光干涉測(cè)厚系統(tǒng)|0.01μm分辨率

7.KeyenceLK-G5000：激光位移傳感器|50kHz高速采樣率

8.Panametrics-NDT36DL：高頻超聲測(cè)厚儀|φ3mm微型探頭

9.OxfordInstrumentsCM12：β射線反向散射儀|放射性同位素源

10.BrukerDektakXT：探針式輪廓儀|16垂直分辨率

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)