參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.純度測(cè)定：采用X射線熒光光譜法（XRF）測(cè)定WO?含量≥99.5%

2.晶型結(jié)構(gòu)分析：通過(guò)X射線衍射（XRD）確認(rèn)單斜相/四方相比例≥98%

3.粒徑分布測(cè)試：激光粒度儀測(cè)定D50值控制在0.5-3.0μm范圍

4.比表面積測(cè)定：BET法測(cè)試比表面積≥15m/g

5.雜質(zhì)元素分析：ICP-MS檢測(cè)Fe、Ni、Mo等金屬雜質(zhì)≤200ppm

檢測(cè)范圍

1.鎢基合金原料：用于航天發(fā)動(dòng)機(jī)噴嘴制造的高純WO?粉末

2.電致變色材料：建筑智能玻璃用納米級(jí)WO?薄膜

3.催化劑載體：石化行業(yè)加氫脫硫催化劑載體材料

4.陶瓷復(fù)合材料：高溫爐具用WO?-Al?O?復(fù)合陶瓷

5.光電涂層材料：太陽(yáng)能電池電極用磁控濺射靶材

檢測(cè)方法

1.ASTME975-20金屬粉末X射線衍射定量相分析標(biāo)準(zhǔn)

2.ISO14703:2023精細(xì)陶瓷顆粒尺寸分布測(cè)定通則

3.GB/T13221-2008納米粉末比表面積的測(cè)定方法

4.ASTMD3942-22電感耦合等離子體質(zhì)譜法測(cè)定金屬雜質(zhì)

5.GB/T26050-2010硬質(zhì)合金化學(xué)分析方法總則

檢測(cè)設(shè)備

1.PANalyticalX'PertPowderX射線衍射儀：晶相結(jié)構(gòu)定量分析（角度范圍5-140）

2.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：0.01-3500μm粒徑分布測(cè)試

3.MicromeriticsASAP2460比表面分析儀：BET法比表面積測(cè)量精度1%

4.ThermoScientificiCAPRQICP-MS：ppt級(jí)痕量元素檢測(cè)能力

5.HitachiSU5000場(chǎng)發(fā)射電鏡：納米級(jí)形貌觀測(cè)（分辨率1nm）

6.NetzschSTA449F5同步熱分析儀：熱重-差熱同步測(cè)量（溫度范圍RT-1600℃）

7.BrukerS8TIGERXRF光譜儀：元素分析精度0.01%

8.AgilentCary7000紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)：光學(xué)性能測(cè)試（波長(zhǎng)范圍175-3300nm）

9.MettlerToledoT90電位滴定儀：氧化還原滴定精度0.1μL

10.AntonPaarLitesizer500納米粒度儀：動(dòng)態(tài)光散射法測(cè)量1nm-10μm顆粒

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)