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光強(qiáng)度調(diào)制檢測(cè)

2025-03-17 關(guān)鍵詞:光強(qiáng)度調(diào)制測(cè)試周期,光強(qiáng)度調(diào)制項(xiàng)目報(bào)價(jià),光強(qiáng)度調(diào)制測(cè)試儀器 相關(guān):
光強(qiáng)度調(diào)制檢測(cè)

光強(qiáng)度調(diào)制檢測(cè)摘要:光強(qiáng)度調(diào)制檢測(cè)是通過量化光信號(hào)在傳輸或調(diào)制過程中的強(qiáng)度變化特性,評(píng)估光學(xué)器件性能的核心技術(shù)手段。檢測(cè)涵蓋調(diào)制深度、線性度、頻率響應(yīng)等關(guān)鍵參數(shù),適用于光纖通信組件、激光器模塊及光電傳感器等材料的質(zhì)量控制與失效分析。需嚴(yán)格遵循ASTM、ISO及GB/T標(biāo)準(zhǔn)方法確保數(shù)據(jù)可靠性。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

調(diào)制深度:測(cè)量范圍0.1%~99.9%,分辨率±0.05%

頻率響應(yīng)帶寬:10 Hz~40 GHz,誤差≤±1 dB

線性度偏差:非線性誤差≤0.5%(輸入功率1 mW~10 W)

上升/下降時(shí)間:測(cè)試范圍0.1 ns~10 ms,精度±5 ps

消光比:動(dòng)態(tài)范圍30 dB~60 dB,重復(fù)性±0.2 dB

檢測(cè)范圍

光學(xué)薄膜及鍍層器件(如增透膜、分光片)

光纖通信組件(包括調(diào)制器、耦合器)

半導(dǎo)體激光器與LED光源模塊

光電傳感器及探測(cè)器陣列

液晶顯示背光模組與量子點(diǎn)材料

檢測(cè)方法

ASTM E275-08(2017):光學(xué)元件透射率與反射率測(cè)試規(guī)范

ISO 13695:2004:激光光源光譜特性與調(diào)制穩(wěn)定性測(cè)量

GB/T 15972.40-2021:光纖試驗(yàn)方法第40部分-傳輸特性和光學(xué)特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序

IEC 60747-5-3:2020:光電子器件動(dòng)態(tài)響應(yīng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 26183-2010:發(fā)光二極管測(cè)試方法中光強(qiáng)分布及調(diào)制特性章節(jié)

檢測(cè)設(shè)備

安捷倫N7744A多端口光功率計(jì):支持4通道同步測(cè)量,波長范圍1200~1650 nm

Tektronix DPO73304SX示波器:70 GHz帶寬,用于ns級(jí)瞬態(tài)響應(yīng)分析

Newport 818-BB-35光電探測(cè)器:350~1800 nm光譜響應(yīng),上升時(shí)間<1 ns

Siglent SSA3032X頻譜分析儀:9 kHz~3.2 GHz頻率范圍,RBW 1 Hz~3 MHz可調(diào)

Thorlabs PM100D光功率計(jì)探頭:覆蓋190~2500 nm波長,功率測(cè)量精度±0.5%

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析光強(qiáng)度調(diào)制檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師

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