光強(qiáng)度調(diào)制檢測(cè)摘要:光強(qiáng)度調(diào)制檢測(cè)是通過量化光信號(hào)在傳輸或調(diào)制過程中的強(qiáng)度變化特性,評(píng)估光學(xué)器件性能的核心技術(shù)手段。檢測(cè)涵蓋調(diào)制深度、線性度、頻率響應(yīng)等關(guān)鍵參數(shù),適用于光纖通信組件、激光器模塊及光電傳感器等材料的質(zhì)量控制與失效分析。需嚴(yán)格遵循ASTM、ISO及GB/T標(biāo)準(zhǔn)方法確保數(shù)據(jù)可靠性。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
調(diào)制深度:測(cè)量范圍0.1%~99.9%,分辨率±0.05%
頻率響應(yīng)帶寬:10 Hz~40 GHz,誤差≤±1 dB
線性度偏差:非線性誤差≤0.5%(輸入功率1 mW~10 W)
上升/下降時(shí)間:測(cè)試范圍0.1 ns~10 ms,精度±5 ps
消光比:動(dòng)態(tài)范圍30 dB~60 dB,重復(fù)性±0.2 dB
光學(xué)薄膜及鍍層器件(如增透膜、分光片)
光纖通信組件(包括調(diào)制器、耦合器)
半導(dǎo)體激光器與LED光源模塊
光電傳感器及探測(cè)器陣列
液晶顯示背光模組與量子點(diǎn)材料
ASTM E275-08(2017):光學(xué)元件透射率與反射率測(cè)試規(guī)范
ISO 13695:2004:激光光源光譜特性與調(diào)制穩(wěn)定性測(cè)量
GB/T 15972.40-2021:光纖試驗(yàn)方法第40部分-傳輸特性和光學(xué)特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序
IEC 60747-5-3:2020:光電子器件動(dòng)態(tài)響應(yīng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 26183-2010:發(fā)光二極管測(cè)試方法中光強(qiáng)分布及調(diào)制特性章節(jié)
安捷倫N7744A多端口光功率計(jì):支持4通道同步測(cè)量,波長范圍1200~1650 nm
Tektronix DPO73304SX示波器:70 GHz帶寬,用于ns級(jí)瞬態(tài)響應(yīng)分析
Newport 818-BB-35光電探測(cè)器:350~1800 nm光譜響應(yīng),上升時(shí)間<1 ns
Siglent SSA3032X頻譜分析儀:9 kHz~3.2 GHz頻率范圍,RBW 1 Hz~3 MHz可調(diào)
Thorlabs PM100D光功率計(jì)探頭:覆蓋190~2500 nm波長,功率測(cè)量精度±0.5%
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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