參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

調(diào)制深度：測(cè)量范圍0.1%~99.9%，分辨率±0.05%

頻率響應(yīng)帶寬：10 Hz~40 GHz，誤差≤±1 dB

線性度偏差：非線性誤差≤0.5%（輸入功率1 mW~10 W）

上升/下降時(shí)間：測(cè)試范圍0.1 ns~10 ms，精度±5 ps

消光比：動(dòng)態(tài)范圍30 dB~60 dB，重復(fù)性±0.2 dB

檢測(cè)范圍

光學(xué)薄膜及鍍層器件（如增透膜、分光片）

光纖通信組件（包括調(diào)制器、耦合器）

半導(dǎo)體激光器與LED光源模塊

光電傳感器及探測(cè)器陣列

液晶顯示背光模組與量子點(diǎn)材料

檢測(cè)方法

ASTM E275-08(2017)：光學(xué)元件透射率與反射率測(cè)試規(guī)范

ISO 13695:2004：激光光源光譜特性與調(diào)制穩(wěn)定性測(cè)量

GB/T 15972.40-2021：光纖試驗(yàn)方法第40部分-傳輸特性和光學(xué)特性的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序

IEC 60747-5-3:2020：光電子器件動(dòng)態(tài)響應(yīng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 26183-2010：發(fā)光二極管測(cè)試方法中光強(qiáng)分布及調(diào)制特性章節(jié)

檢測(cè)設(shè)備

安捷倫N7744A多端口光功率計(jì)：支持4通道同步測(cè)量，波長范圍1200~1650 nm

Tektronix DPO73304SX示波器：70 GHz帶寬，用于ns級(jí)瞬態(tài)響應(yīng)分析

Newport 818-BB-35光電探測(cè)器：350~1800 nm光譜響應(yīng)，上升時(shí)間<1 ns

Siglent SSA3032X頻譜分析儀：9 kHz~3.2 GHz頻率范圍，RBW 1 Hz~3 MHz可調(diào)

Thorlabs PM100D光功率計(jì)探頭：覆蓋190~2500 nm波長，功率測(cè)量精度±0.5%

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)