鄰二氨基苯檢測(cè)摘要:鄰二氨基苯(1,2-Diaminobenzene)是一種重要的化工中間體,廣泛應(yīng)用于染料、醫(yī)藥及高分子材料領(lǐng)域。其檢測(cè)需關(guān)注純度、雜質(zhì)含量及穩(wěn)定性等關(guān)鍵指標(biāo),涉及氣相色譜、液相色譜及光譜分析等技術(shù)手段。本文系統(tǒng)闡述該化合物的檢測(cè)項(xiàng)目、適用材料范圍、標(biāo)準(zhǔn)化方法及核心設(shè)備配置。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
純度測(cè)定:主成分含量≥99.5%(HPLC法)
水分含量:卡爾費(fèi)休法測(cè)定值≤0.1%
重金屬殘留:鉛(Pb)≤10ppm、鎘(Cd)≤5ppm(ICP-MS法)
異構(gòu)體比例:鄰位/對(duì)位異構(gòu)體比值≥98:2(GC-MS法)
熱穩(wěn)定性測(cè)試:熱重分析(TGA)失重率≤2%(200℃恒溫1h)
化工原料:工業(yè)級(jí)鄰二氨基苯晶體及溶液
醫(yī)藥中間體:抗真菌藥物合成前驅(qū)體
染料產(chǎn)品:苯胺黑染料及偶氮染料原料
高分子材料:聚酰亞胺樹脂改性添加劑
電子化學(xué)品:印刷電路板蝕刻液成分分析
氣相色譜法(GC):GB/T 9722-2022《化學(xué)試劑氣相色譜法通則》
高效液相色譜法(HPLC):ISO 11344:2018《塑料制品中芳香胺測(cè)定》
電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS):ASTM D7439-21《金屬雜質(zhì)痕量分析標(biāo)準(zhǔn)》
紅外光譜法(FTIR):GB/T 6040-2019《化工產(chǎn)品紅外光譜分析通則》
熱重分析法(TGA):ISO 11358-1:2022《塑料熱重分析法通則》
Agilent 7890B氣相色譜儀: 配備FID檢測(cè)器,分辨率0.1ppm,用于異構(gòu)體定量分析
Waters Alliance e2695高效液相色譜儀: 搭配PDA檢測(cè)器,波長(zhǎng)范圍190-900nm,執(zhí)行純度測(cè)試
PerkinElmer NexION 350D ICP-MS: 檢出限達(dá)ppt級(jí),完成重金屬痕量分析
TGA 550熱重分析儀(TA Instruments): 溫度精度±0.1℃,評(píng)估材料熱穩(wěn)定性
METTLER TOLEDO DL39 Karl Fischer水分測(cè)定儀: 分辨率0.1μg H?O,測(cè)定微量水分含量
Sartorius CPA225D電子天平: 量程220g/0.01mg精度,用于精密稱量操作
Tekmar Atomx XYZ吹掃捕集系統(tǒng): 符合EPA Method 5035標(biāo)準(zhǔn),處理?yè)]發(fā)性雜質(zhì)前處理
Cary 630 FTIR光譜儀(Agilent): 波數(shù)范圍450-4000cm?1,快速鑒別化合物結(jié)構(gòu)特征峰型譜圖比對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)含NIST標(biāo)準(zhǔn)譜庫(kù)超過(guò)15萬(wàn)組數(shù)據(jù)支持定性分析。
Soxtec 2050自動(dòng)索氏提取系統(tǒng)(FOSS): 溶劑回收率≥95%,執(zhí)行固體樣品中目標(biāo)物萃取。
Siemens D5000 X射線衍射儀(XRD):: Cu靶Kα輻射源(λ=1.5406?),用于晶型結(jié)構(gòu)表征。
CEM Discover SP-D微波消解儀:: 40位高通量反應(yīng)罐設(shè)計(jì)滿足批量樣品前處理需求。
Crison GLP31電導(dǎo)率儀:: ±0.5%測(cè)量精度監(jiān)控溶液體系離子強(qiáng)度。
Systea Easychem Plus流動(dòng)注射分析儀:: 在線稀釋功能實(shí)現(xiàn)高濃度樣品梯度測(cè)試。
TOC-L CPH總有機(jī)碳分析儀(島津):: NDIR檢測(cè)器測(cè)定溶液體系有機(jī)碳總量。
Scilogex SCI601-Pro旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)儀:: -0.098MPa真空度保障溶劑高效回收。
Sartorius PB-10 pH計(jì):: ±0.01pH精度監(jiān)控反應(yīng)體系酸堿度變化。
Sartorius Cubis II超微量天平:: 量程2.1g/0.1μg精度滿足痕量樣品稱量需求。
Sartorius Secura 225D-1S電子天平:: 內(nèi)置砝碼自動(dòng)校準(zhǔn)功能確保稱量準(zhǔn)確性。
CEM Liberty Prime微波消解儀:: 壓力監(jiān)控系統(tǒng)實(shí)時(shí)反饋消解進(jìn)程。
CEM MARS6高通量微波消解系統(tǒng):: 40位轉(zhuǎn)子設(shè)計(jì)滿足大批量樣品處理需求。
CEM EDGE微波消解儀:: 專利垂直定向聚焦技術(shù)提升消解效率。
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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