參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.主量元素分析：Nb?O?（30-75%）、Ta?O?（5-40%）、Fe?O?（0.1-15%）、MnO（0.01-8%）

2.微量元素測(cè)定：U（1-500ppm）、Th（5-1000ppm）、Sn（10-2000ppm）、Zr（50-3000ppm）

3.晶體結(jié)構(gòu)分析：空間群測(cè)定（Pbnm或C2/m）、晶胞參數(shù)（a=5.740.02,b=14.270.03）

4.物理性能測(cè)試：密度（5.3-7.9g/cm）、莫氏硬度（6.0-6.5）、介電常數(shù)（10-25@1MHz）

5.放射性檢測(cè)：U-238比活度（0.1-50Bq/g）、Th-232比活度（0.5-200Bq/g）

檢測(cè)范圍

1.原礦石樣品：花崗偉晶巖型/碳酸巖型礦床原生礦石

2.精礦粉體：粒度325目以上鉭鈮精礦粉

3.冶金中間品：鉭鐵合金（FeTa30-FeTa70）、鈮鐵合金（FeNb50-FeNb70）

4.功能材料：鉭電容器級(jí)Ta?O?粉體（純度≥99.95%）

5.工業(yè)廢料：電子廢料中鉭鈮回收物（PCB板/廢催化劑）

檢測(cè)方法

1.X射線熒光光譜法：ASTMD5381-93(2021)測(cè)定主量元素

2.ICP-MS法：ISO17294-2:2016測(cè)定痕量元素

3.X射線衍射法：GB/T17433-2014進(jìn)行物相定量分析

4.電子探針微區(qū)分析：GB/T15074-2008測(cè)定元素面分布

5.中子活化分析：ISO21483:2017測(cè)定U/Th含量

檢測(cè)設(shè)備

1.PANalyticalAxiosMaxX射線熒光光譜儀：波長(zhǎng)色散型WDXRF，測(cè)量精度0.02%

2.ThermoFisheriCAPRQICP-MS：檢出限達(dá)ppt級(jí)，配備碰撞反應(yīng)池技術(shù)

3.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀：Cu靶Kα輻射（λ=1.5406），角度精度0.0001

4.ShimadzuEPMA-8050G電子探針：空間分辨率≤1μm，元素分析范圍B-U

5.PerkinElmerNexION350DICP-OES：軸向觀測(cè)系統(tǒng)，動(dòng)態(tài)線性范圍達(dá)9個(gè)數(shù)量級(jí)

6.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：測(cè)量范圍0.01-3500μm，濕法/干法雙模式

7.NetzschSTA449F3同步熱分析儀：TG-DSC聯(lián)用，溫度范圍RT-1550℃

8.Agilent5500AFM原子力顯微鏡：分辨率XY≤1nm,Z≤0.1nm

9.CanberraBE6530高純鍺γ譜儀：能量分辨率≤1.9keV@1332keV

10.MettlerToledoXSE205電子天平：稱量精度0.01mg，最大載荷

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)