參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

1.鎂含量測定：純度≥99.95%，采用差減法計算主成分含量

2.痕量雜質元素分析：Al≤30ppm、Fe≤25ppm、Cu≤5ppm、Ni≤3ppm、Si≤15ppm

3.氣體元素檢測：氧含量≤50ppm、氮含量≤20ppm、氫含量≤2ppm

4.晶粒尺寸測定：平均晶粒度≤50μm（ASTME112標準評級）

5.表面缺陷檢測：裂紋深度≤0.1mm、夾雜物尺寸≤10μm

檢測范圍

1.航空航天級鎂合金鑄錠（Mg≥99.98%）

2.核工業(yè)用高純鎂屏蔽材料（Fe+Ni+Cu≤50ppm）

3.電子級鎂蒸發(fā)源（Cl?≤5ppm）

4.醫(yī)用鎂基生物材料（重金屬總量≤100ppm）

5.儲能電池用超純鎂箔（厚度0.05-0.2mm）

檢測方法

1.鎂含量測定：GB/T13748.20-2021《鎂及鎂合金化學分析方法》

2.雜質元素分析：ASTME3061-17《ICP-MS法測定高純金屬中痕量元素》

3.氧氮氫聯(lián)測：ISO15351:2019《惰性氣體熔融法測定金屬中氣體元素》

4.晶粒度測定：GB/T6394-2017《金屬平均晶粒度測定方法》

5.表面缺陷檢測：ASTME1444-2022《液體滲透檢驗標準實踐規(guī)程》

檢測設備

1.Agilent7900電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）：痕量元素定量分析（檢出限0.01ppb）

2.LECOONH836氧氮氫分析儀：氣體元素同步測定（精度0.1ppm）

3.ZEISSAxioImager.M2m金相顯微鏡：晶粒度自動評級（分辨率0.1μm）

4.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀（XRD）：晶體結構分析（角度重復性0.0001）

5.HitachiSU5000場發(fā)射掃描電鏡（SEM-EDS）：表面形貌與微區(qū)成分分析（分辨率1nm）

6.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光譜儀：特定元素定量分析（RSD＜1%）

7.ShimadzuEPMA-8050G電子探針顯微分析儀：夾雜物成分鑒定（空間分辨率50nm）

8.MitutoyoSJ-410表面粗糙度儀：表面光潔度測量（精度0.01μm）

9.Instron5985萬能材料試驗機：力學性能測試（載荷精度0.5%）

10.ThermoScientificARLEQUINOX1000X熒光光譜儀：快速成分篩查（分析時間

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質