參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

鍍錫層厚度：檢測(cè)范圍0.5-8.0μm，精度±0.05μm

單位面積鍍錫重量：測(cè)量范圍1.0-50.0g/m2，分辨率0.1g/m2

鍍層均勻性：平面區(qū)域偏差≤±10%，邊緣區(qū)域≤±15%

鍍層附著力：劃格法測(cè)試等級(jí)≥4B（ASTM D3359）

孔隙率檢測(cè)：?jiǎn)挝幻娣e孔隙數(shù)≤5個(gè)/cm2（GB/T 1771）

檢測(cè)范圍

鍍錫鋼板：厚度0.1-3.0mm的冷軋/熱軋基材

銅線材鍍錫層：直徑0.05-5.0mm導(dǎo)線

電子元件引腳：錫層厚度1.0-5.0μm

食品包裝罐體：雙面鍍層重量2.8-11.2g/m2

汽車零部件鍍錫：緊固件、連接器等耐腐蝕部件

檢測(cè)方法

X射線熒光光譜法（XRF）：ASTM B568，ISO 3497

化學(xué)溶解稱重法：GB/T 1838，ASTM A630

金相顯微鏡法：GB/T 6462，ISO 1463

庫(kù)侖法測(cè)厚：ISO 2177，GB/T 4955

電化學(xué)孔隙檢測(cè)：GB/T 1771，ASTM B798

檢測(cè)設(shè)備

XRF鍍層測(cè)厚儀：Thermo Scientific Niton XL5，支持Sn元素0.01-50μm檢測(cè)

金相顯微鏡：Olympus GX53，配備5000倍高清成像模塊

庫(kù)侖測(cè)厚儀：Fischer COULOSCOPE CMS，測(cè)量誤差±1%

電子天平：Mettler Toledo XPR205，精度0.01mg

電化學(xué)工作站：Gamry Interface 1010E，支持極化曲線分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)