參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.金屬板材厚度減薄率測(cè)定：精度0.1mm，測(cè)量點(diǎn)間距≤50mm

2.管道壁厚殘余量分析：最小測(cè)量分辨率0.05mm，軸向周向雙維度掃描

3.塑料薄膜均勻性檢驗(yàn)：厚度波動(dòng)范圍1μm，全域采樣密度≥200點(diǎn)/m

4.復(fù)合材料分層厚度測(cè)量：層間分辨率0.01mm，邊緣效應(yīng)修正系數(shù)≥0.95

5.涂層剝離后基材厚度驗(yàn)證：誤差≤2%，表面粗糙度補(bǔ)償Ra≤3.2μm

檢測(cè)范圍

1.金屬板材：壓力容器用Q345R鋼板、航空鋁合金2024-T3板材

2.高分子薄膜：BOPP包裝膜、鋰電隔膜PE/PP復(fù)合材料

3.復(fù)合管材：玻璃鋼夾砂管道、雙金屬?gòu)?fù)合管

4.電子元件鍍層：PCB銅箔鍍層、半導(dǎo)體晶圓鈍化層

5.橡膠密封件：O型圈截面直徑、油封唇口厚度

檢測(cè)方法

1.超聲波測(cè)厚法：ASTMB499標(biāo)準(zhǔn)要求探頭頻率5MHz10%，耦合劑粘度350-450cP

2.射線測(cè)厚法：GB/T11344規(guī)定X射線管電壓≤160kV時(shí)測(cè)量誤差＜0.1mm

3.激光掃描法：ISO13124定義掃描速度≤50mm/s時(shí)空間分辨率0.02mm

4.渦流檢測(cè)法：ISO2360要求非導(dǎo)電基體涂層測(cè)量頻率100kHz-10MHz

5.機(jī)械千分尺法：GB/T1216規(guī)定測(cè)力0.5-1.5N時(shí)重復(fù)性誤差≤1μm

檢測(cè)設(shè)備

1.Olympus38DLPLUS超聲波測(cè)厚儀：量程0.5-500mm，高溫探頭適用300℃環(huán)境

2.Elcometer456涂層測(cè)厚儀：支持Fe/NFe雙模式，符合ISO2808標(biāo)準(zhǔn)

3.Mitutoyo293-831機(jī)械千分尺：分辨率0.001mm，砧面直徑6mm

4.Phoenixv|tome|xL450射線掃描系統(tǒng)：微焦點(diǎn)射線源尺寸＜3μm

5.KeyenceLJ-V7000激光位移計(jì)：采樣頻率392kHz，Z軸重復(fù)精度0.025μm

6.EddyCurrentNORTEC600渦流儀：多頻混頻技術(shù)支持4MHz同步激勵(lì)

7.ZeissXradia620Versa顯微CT：空間分辨率0.7μm@40kV

8.FischerMP0R磁感應(yīng)測(cè)厚儀：非接觸式測(cè)量鍍鋅層/磷化層

9.PanametricsEpochXT探傷儀：A掃描刷新率120Hz，支持高溫探頭擴(kuò)展

10.TaylorHobsonTalyrond585圓度儀：軸向測(cè)量精度

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)