差頻相位延遲檢測(cè)
差頻相位延遲檢測(cè)摘要：差頻相位延遲檢測(cè)是評(píng)估高頻信號(hào)傳輸系統(tǒng)中相位一致性的關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)。本文重點(diǎn)闡述該檢測(cè)的核心參數(shù)（包括頻率范圍、相位精度、溫度漂移等）、適用材料類(lèi)型（如微波介質(zhì)基板、光纖器件等）、符合ASTM/ISO/GB標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法體系以及高精度矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等核心設(shè)備的選型依據(jù)。
參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
檢測(cè)項(xiàng)目
相位延遲量：測(cè)量范圍±180°，分辨率≤0.1°
頻率響應(yīng)特性：測(cè)試帶寬10MHz-40GHz
溫度穩(wěn)定性：-55℃~+125℃溫變條件下的相位偏移量
群時(shí)延波動(dòng)：時(shí)延精度±5ps@1GHz基準(zhǔn)頻率
諧波失真度：二次諧波抑制比≥30dBc
檢測(cè)范圍
微波介質(zhì)基板（RO4003C、Taconic RF-35等）
光纖延遲線（單模/保偏光纖組件）
射頻同軸電纜（SMA/BNC接口型）
液晶顯示模塊（TFT-LCD驅(qū)動(dòng)單元）
雷達(dá)天線陣列（相控陣單元校準(zhǔn)）
檢測(cè)方法
ASTM E2109-20：射頻組件群時(shí)延測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
ISO 11540:2021：光纖通信系統(tǒng)相位噪聲測(cè)試方法
GB/T 15532-2008：數(shù)字通信設(shè)備傳輸時(shí)延測(cè)試規(guī)范
GB 11461-2013：微波元件相位一致性測(cè)量技術(shù)要求
SJ 20882-2018：相控陣天線單元校準(zhǔn)測(cè)試方法
檢測(cè)設(shè)備
Keysight N5224B矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀：支持10MHz-43.5GHz頻段，時(shí)域反射測(cè)量功能
Tektronix RSA5126B實(shí)時(shí)頻譜分析儀：26.5GHz帶寬，相位噪聲基底-148dBc/Hz@10kHz偏移
北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】
報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。
資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。
售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。
中析儀器 資質(zhì)
中析差頻相位延遲檢測(cè) - 由于篇幅有限，僅展示部分項(xiàng)目，如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目，請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
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