參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 純度分析：Al?O?含量測(cè)定（≥99.5%），雜質(zhì)元素（Fe?O?≤0.02%、SiO?≤0.03%、Na?O≤0.05%）

2. 晶型結(jié)構(gòu)：α-Al?O?與γ-Al?O?相含量比（XRD半定量分析±1%）

3. 粒徑分布：D10/D50/D90值測(cè)定（激光法±0.1μm），跨度值≤1.5

4. 比表面積：BET法測(cè)定（1-200 m2/g±3%）

5. 堆積密度：振實(shí)密度≥1.2g/cm3（ASTM B527標(biāo)準(zhǔn)）

檢測(cè)范圍

1. 工業(yè)陶瓷原料：高純氧化鋁粉體（99.99%）

2. 催化劑載體：γ相氧化鋁微球（Φ1-5mm）

3. 耐火材料：板狀剛玉制品（Al?O?≥98.5%）

4. 電子基板：透明氧化鋁陶瓷（厚度0.2-1.0mm）

5. 研磨材料：白剛玉磨料（粒度F220-F2000）

檢測(cè)方法

1. ASTM E394-15：X射線熒光光譜法測(cè)定元素含量

2. ISO 14703:2016：掃描電鏡法表征顆粒形貌

3. GB/T 6609.34-2022：電感耦合等離子體發(fā)射光譜法測(cè)雜質(zhì)

4. ISO 13320:2020：激光衍射法粒度分析

5. GB/T 5071-2013：耐火材料真密度測(cè)定

檢測(cè)設(shè)備

1. Rigaku SmartLab X射線衍射儀：晶型定量分析（2θ范圍5-90°）

2. Malvern Mastersizer 3000激光粒度儀：0.01-3500μm測(cè)量范圍

3. Micromeritics ASAP 2460比表面儀：BET法0.01-無(wú)上限m2/g

4. Shimadzu EDX-8000 X熒光光譜儀：ppm級(jí)元素分析

5. Netzsch STA 449F3同步熱分析儀：TG-DSC聯(lián)用測(cè)試

6. JEOL JSM-7900F場(chǎng)發(fā)射電鏡：5nm分辨率形貌觀測(cè)

7. Agilent 5110 ICP-OES：多元素同步檢測(cè)系統(tǒng)

8. Quantachrome Ultrapyc 5000真密度儀：氦氣置換法±0.02%精度

9. Brookhaven BI-200SM動(dòng)態(tài)光散射儀：納米顆粒分散性分析

10. Mettler Toledo TGA/DSC3+熱重分析儀：高溫相變特性測(cè)試

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)