硫酸銀檢測摘要:硫酸銀檢測是化學分析領域的重要項目,主要針對其純度、雜質含量及物理化學特性進行精準測定。關鍵檢測指標包括銀含量、氯離子殘留、水分值及溶解性能等,適用于化工原料、電子材料及實驗室試劑的品質控制。檢測過程嚴格遵循ASTM、ISO及GB/T標準規(guī)范,采用光譜分析、電化學法等技術手段確保數(shù)據(jù)可靠性。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。
1. 純度測定:Ag?SO?含量≥99.5%(質量分數(shù)),采用差示掃描量熱法(DSC)驗證
2. 氯離子(Cl?)殘留:≤0.01%(重量法),符合GB/T 3051-2000標準限值
3. 水分含量:卡爾費休法測定≤0.05%(w/w),控制結晶水穩(wěn)定性
4. 溶解性能:在硝酸介質中溶解度≥98%(25℃恒溫震蕩)
5. 粒度分布:D50控制在1-5μm范圍(激光衍射法)
1. 化學試劑級硫酸銀:用于實驗室分析基準物質認證
2. 感光材料:鹵化銀乳劑中銀源成分的質量監(jiān)控
3. 電子元件:導電漿料用高純硫酸銀的雜質控制
4. 催化劑載體:氧化反應催化劑的活性成分分析
5. 醫(yī)藥中間體:含銀化合物合成原料的批次檢驗
1. GB/T 9725-2007《化學試劑 電位滴定法通則》測定主含量
2. ASTM E534-18《氯化物測定標準試驗方法》離子色譜法
3. ISO 760-1978《水的測定-卡爾·費休法》微量水分測試
4. GB/T 6324.8-2014《有機化工產(chǎn)品試驗方法》溶解性測試
5. ISO 13320-2020《粒度分析-激光衍射法》粒徑分布測定
1. 原子吸收光譜儀(AAS):PerkinElmer PinAAcle 900T型,金屬雜質定量分析
2. 卡爾費休水分測定儀:Metrohm 899 Coulometer型,精度±0.1μg水
3. 激光粒度分析儀:Malvern Mastersizer 3000型,測量范圍0.01-3500μm
4. UV-Vis分光光度計:Shimadzu UV-2600型,波長范圍190-1400nm
5. ICP-OES光譜儀:Thermo iCAP 7400型,多元素同步檢測
6. 電子分析天平:Mettler Toledo XPR205DR型,精度0.01mg
7. X射線衍射儀(XRD):Bruker D8 Advance型,晶體結構分析
8. HPLC系統(tǒng):Agilent 1260 Infinity II型,有機雜質分離檢測
9. 掃描電鏡(SEM):Hitachi SU3500型,表面形貌觀測
10.微波消解系統(tǒng):Anton Paar Multiwave PRO型,樣品前處理
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質:旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務。
中析硫酸銀檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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