參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.主金屬含量分析：Cu（0.5%-99.9%）、Au（0.1-5000g/t）、Ag（10-50000g/t）
2.雜質(zhì)元素測(cè)定：As（5-20000ppm）、Pb（0.01%-15%）、Zn（0.05%-25%）
3.熔煉溫度控制：爐溫監(jiān)測(cè)（800-1600℃5℃）、保溫時(shí)間（0.5-12h）
4.渣相成分分析：SiO?（20-60%）、FeO（5-40%）、CaO（3-25%）
5.氣體含量測(cè)定：O?（50-2000ppm）、H?（1-500ppm）、S（0.01%-5%）

檢測(cè)范圍

1.銅精礦及陽(yáng)極泥：重點(diǎn)檢測(cè)Cu/Ag/Au品位及As/Sb雜質(zhì)
2.鉛鋅混合礦：主測(cè)Pb/Zn配比及Cd/Ge伴生元素
3.貴金屬二次資源：包括電子廢料、催化劑中的Pt/Pd/Rh回收率
4.鎳鈷中間品：Ni（≥30%）、Co（≥5%）及Fe/Mn雜質(zhì)控制
5.稀土富集物：La/Ce/Pr/Nd分組測(cè)定及Th/U放射性核素

檢測(cè)方法

1.X射線熒光光譜法（ASTME1941-18）：主量元素快速定量
2.電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ISO11535:2023）：微量元素精確分析
3.火試金法（GB/T3884.2-2023）：貴金屬標(biāo)準(zhǔn)仲裁方法
4.熱重-差熱聯(lián)用（GB/T13464-2021）：熔煉過(guò)程熱力學(xué)研究
5.掃描電子顯微鏡-能譜聯(lián)用（ISO22489:2022）：微觀形貌與元素分布表征

檢測(cè)設(shè)備

1.ThermoFisherARLQUANT'XXRF光譜儀：多元素同步定量分析
2.PerkinElmerOptima8300ICP-OES：ppb級(jí)痕量元素測(cè)定
3.NetzschSTA449F5同步熱分析儀：熔點(diǎn)與反應(yīng)熱測(cè)量
4.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD衍射儀：物相組成鑒定
5.HitachiSU5000場(chǎng)發(fā)射電鏡：微區(qū)成分與結(jié)構(gòu)分析
6.LECOONH836氧氮?dú)浞治鰞x：氣體元素精確測(cè)定
7.Metrohm905Titrando電位滴定儀：硫/氯等陰離子分析
8.ShimadzuAA-7000原子吸收光譜儀：?jiǎn)卧馗哽`敏度檢測(cè)
9.BrukerS8TIGER波長(zhǎng)色散XRF：高分辨率成分掃描
10.MettlerToledoXPR6U超微量天平：0.001mg稱量精度

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)